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1. (WO2008090563) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR ÉVALUER DES ÉLÉMENTS DE CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/090563    N° de la demande internationale :    PCT/IL2008/000118
Date de publication : 31.07.2008 Date de dépôt international : 27.01.2008
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : CAMTEK LTD [IL/IL]; Ramat Gabriel Industrial Park, P.o.b. 544, 23150 Migdal Haemek (IL) (Tous Sauf US).
FLEISWASSER, Roni [IL/BE]; (BE) (US Seulement).
LEV, Michael [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : FLEISWASSER, Roni; (BE).
LEV, Michael; (IL)
Mandataire : RECHES, Oren; Pearl Cohen Zedek Latzer, 5 Shenkar St., P.O. Box 12704, Herzlia 46733 (IL)
Données relatives à la priorité :
60/886,688 26.01.2007 US
60/886,693 26.01.2007 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR EVALUATING CONTACT ELEMENTS
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME POUR ÉVALUER DES ÉLÉMENTS DE CONTACT
Abrégé : front page image
(EN)A method, system and a computer program product for evaluating contact elements, the method includes: acquiring images of multiple groups of contact elements, wherein each group of contact element was expected to be contacted during a test by the same group of probes so as to form multiple probe marks; and evaluating at least one characteristic of a first contact element in response to a comparison between a number of potential probe marks that appear in the image of a first contact element and a number of potential probe marks that appear in an image of a second contact element.
(FR)La présente invention concerne un procédé, un système et un programme informatique pour évaluer des éléments de contact et comprenant les étapes suivantes : - acquisition d'images de plusieurs groupes d'éléments de contact, chaque groupe devant être mis en contact pendant un test par le même groupe de sondes de manière à former plusieurs marques de sonde, - évaluation d'au moins une caractéristique d'un premier élément de contact en réponse à une comparaison d'un nombre de marques de sonde potentielles apparaissant dans l'image d'un premier élément de contact et d'un nombre de marques de sonde potentielles apparaissant dans une image d'un second élément de contact.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)