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1. (WO2008088571) RÉFRACTION SUBJECTIVE DE FRONT D'ONDE RÉALISÉE AU MOYEN DE LAMES DE PHASE AJUSTABLES EN CONTINU DE FONCTION ZERNIKE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/088571    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/068510
Date de publication : 24.07.2008 Date de dépôt international : 08.05.2007
CIB :
A61B 3/00 (2006.01), A61B 3/10 (2006.01), A61B 3/02 (2006.01)
Déposants : LAI, Shui, T. [US/US]; (US)
Inventeurs : LAI, Shui, T.; (US)
Mandataire : SMITH, Andrew, V.; SF Bay Area Patents, LLC, 601 Van Ness Avenue, #1108, San Francisco, CA 94102 (US)
Données relatives à la priorité :
60/746,772 08.05.2006 US
11/675,079 14.02.2007 US
Titre (EN) SUBJECTIVE WAVEFRONT REFRACTION USING CONTINUOUSLY ADJUSTABLE WAVE PLATES OF ZERNIKE FUNCTION
(FR) RÉFRACTION SUBJECTIVE DE FRONT D'ONDE RÉALISÉE AU MOYEN DE LAMES DE PHASE AJUSTABLES EN CONTINU DE FONCTION ZERNIKE
Abrégé : front page image
(EN)A wavefront device produces adjustable amplitudes in optical path differences and adjustable axis orientation angles, two substantially identical wave plates (225) have a wavefront profile of at least the third order Zernike polynomial function which are not circularly symmetric, as denoted by Z(i,j) where i ≥ 3 and j ≠ 0. The wave plates are mounted in rotatable mounts (124) with their optical centers substantially aligned with each other.
(FR)Un dispositif de front d'onde produit des amplitudes ajustables dans des différences de trajet optique et des angles d'orientation d'axe ajustables, deux lames de phase sensiblement identiques ayant un profil de front d'onde d'une fonction polynominale de Zernike de troisième ordre ou d'un ordre supérieur qui ne sont pas circulairement symétrique, comme l'indique Z(i,,j) où i ≥ 3 et j ≠ 0. Les lames de phase sont montées dans des supports rotatifs de sorte que leurs centres optiques soient sensiblement alignés l'un sur l'autre. Un instrument et un procédé de réfraction subjective de front d'onde sont conçus pour corriger les aberrations d'ordre faible et d'ordre élevé de l'oeil, au moyen des lames de phase ajustables qui présentent des profils d'astigmatisme et des profils de front d'onde des différences de trajet optique d'une fonction Zernike de troisième ordre.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)