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1. (WO2008086997) CIRCUITERIE D'AMPLIFICATEUR À CIRCUIT DE TEST INTÉGRÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/086997    N° de la demande internationale :    PCT/EP2008/000235
Date de publication : 24.07.2008 Date de dépôt international : 15.01.2008
CIB :
G01R 31/316 (2006.01), H03F 3/72 (2006.01), H03G 3/12 (2006.01)
Déposants : IC-HAUS GMBH [DE/DE]; Am Kuemmerling 18, D-55294 Bodenheim (DE) (Tous Sauf US).
KRACK, Bernhard [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
HERZ, Manfred [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : KRACK, Bernhard; (DE).
HERZ, Manfred; (DE)
Mandataire : KAMPFENKEL, Klaus; Blumbach Zinngrebe, Alexandrastr. 5, 65187 Wiesbaden (DE)
Données relatives à la priorité :
202007000891.0 16.01.2007 DE
Titre (DE) VERSTÄRKER-SCHALTUNGSANORDNUNG MIT INTEGRIERTER TESTSCHALTUNG
(EN) AMPLIFICATION CIRCUIT HAVING AN INTEGRATED TEST CIRCUIT
(FR) CIRCUITERIE D'AMPLIFICATEUR À CIRCUIT DE TEST INTÉGRÉ
Abrégé : front page image
(DE)Es wird eine integrierte Verstärker-Schaltungsanordnung bereitgestellt, die insbesondere auch bei Einsatz eines Operationsverstärkers hoher Präzision mit Offsetspannungen im Mikrovoltbereich getestet werden können. Die integrierte Schaltungsanordnung weist wenigstens einen Operationsverstärker (10) und ein dem Operationsverstärker (10) zugeordnetes Gegenkopplungsnetzwerk (40; 50) auf, welches während eines Testbetriebs des Operationsverstärkers zum Verstärken der Offsetspannung des Operationsverstärkers zuschaltbar ist.
(EN)The invention relates to an integrated amplification circuit that can be tested, in particular, in the event of using a high precision operation amplifier, with offset voltages in the microvolt range. Said integrated circuit comprising at least one operation amplifier (10) and a negative feedback network (40, 50) associated with the operation amplifier (10), can be activated during a test mode of the operation amplifier in order to amplify offset voltages of the operation amplifier.
(FR)L'invention concerne une circuiterie d'amplificateur intégrée pouvant notamment être testée en cas d'utilisation d'un amplificateur opérationnel de grande précision, avec des tensions de décalage dans le domaine des microvolts. La circuiterie intégrée présente au moins un amplificateur opérationnel (10) et un réseau de réaction inverse (40, 50) affecté à l'amplificateur opérationnel (10), pouvant être activé lors d'un fonctionnement de test de l'amplificateur opérationnel pour l'amplification de la tension de décalage de l'amplificateur opérationnel.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)