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1. (WO2008085163) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE L'ALIGNEMENT DE FILMS PERMETTANT UNE DÉTECTION AUTOMATIQUE DE DÉFAUTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/085163    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/000535
Date de publication : 17.07.2008 Date de dépôt international : 09.01.2007
CIB :
G01B 11/00 (2006.01), G01N 21/896 (2006.01)
Déposants : GENERAL ELECTRIC COMPANY [US/US]; (A New York Corporation), 1 River Road, Schenectady, NY 12345 (US) (Tous Sauf US).
CHEVERTON, Mark, Allen [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CHEVERTON, Mark, Allen; (US)
Mandataire : CURBELO, Pamela; Cantor Colburn, LLP, 55 Griffin Road South, Bloomfield, CT 06002 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD FOR DETECTING THE ALIGNMENT OF FILMS FOR AUTOMATED DEFECT DETECTION
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE L'ALIGNEMENT DE FILMS PERMETTANT UNE DÉTECTION AUTOMATIQUE DE DÉFAUTS
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed herein is a method comprising acquiring an image of a display film or a mold with a camera; transferring the image to a computer; detecting an angle of alignment and/or a position of the display film or the mold from the image; detecting coordinates of defects located in the display film or the mold; and correcting the coordinates of the defects by compensating for the angle of alignment and/or the position of the display film or the mold.
(FR)L'invention concerne un procédé consistant à acquérir une image d'un film d'affichage ou d'un moule équipé d'une caméra; à transférer l'image à un ordinateur; à détecter un angle d'alignement et/ou une position du film d'affichage ou du moule à partir de l'image; à détecter des coordonnées de défauts dans le film d'affichage ou le moule; et à corriger les coordonnées de défauts par compensation de l'angle d'alignement et/ou de la position du film d'affichage ou du moule.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)