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1. (WO2008083437) PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT DE LOCALISER LA SURFACE D'UN MILIEU DE CULTURE SOLIDE DANS UNE PLAQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/083437    N° de la demande internationale :    PCT/AU2008/000014
Date de publication : 17.07.2008 Date de dépôt international : 11.01.2008
CIB :
C12M 1/22 (2006.01), C12M 1/26 (2006.01), G01N 35/00 (2006.01)
Déposants : LABTECH SYSTEMS LIMITED [AU/AU]; Level 2, 153 Flinders Street, Adelaide, South Australia 5000 (AU) (Tous Sauf US).
OOI, Chong, Kean [AU/AU]; (AU) (US Seulement).
TOMLINSON, Michael, John [AU/AU]; (AU) (US Seulement).
RAJ, Leon [NZ/AU]; (AU) (US Seulement).
CROSS, Graeme, John [AU/AU]; (AU) (US Seulement)
Inventeurs : OOI, Chong, Kean; (AU).
TOMLINSON, Michael, John; (AU).
RAJ, Leon; (AU).
CROSS, Graeme, John; (AU)
Mandataire : PHILLIPS ORMONDE & FITZPATRICK; Level 21, 22 & 23, 367 Collins Street, Melbourne, Victoria 3000 (AU)
Données relatives à la priorité :
2007900147 12.01.2007 AU
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR LOCATING THE SURFACE OF SOLID GROWTH CULTURE MEDIA IN A PLATE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL PERMETTANT DE LOCALISER LA SURFACE D'UN MILIEU DE CULTURE SOLIDE DANS UNE PLAQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method for locating the surface of a solid growth culture medium in a plate in a plate work position, the plate work position including a sensor and having a datum level fixed in one dimension (z), the method including: ~ placing the plate in the plate work position; ~ using the sensor to sense the medium surface for the positioned plate and measuring the distance to the medium surface; and ~ referencing the measured distance to the datum level to determine a surface positional reference, relative to the datum level, in one dimension (z) for the surface of the medium in the positioned plate.
(FR)La présente invention concerne un procédé permettant de localiser la surface d'un milieu de culture solide dans une plaque placée dans une position de traitement de plaque, ladite position de traitement de plaque comportant un capteur et possédant un niveau de référence fixe dans une dimension (z). Le procédé selon l'invention consiste : à placer la plaque dans la position de traitement de plaque; à faire appel au capteur pour détecter la surface du milieu pour la plaque positionnée, et à mesurer la distance jusqu'à la surface du milieu; et à référencer la distance mesurée par rapport au niveau de référence, afin de déterminer une position de surface de référence, par rapport au niveau de référence, dans une dimension (z) pour la surface du milieu dans la plaque positionnée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)