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1. (WO2008083372) SYSTÈMES, MODULES, PUCES, CIRCUITS ET PROCÉDÉS AVEC DES MISES À JOUR DE VALEURS D'AJUSTEMENT DE RETARD LORS DE LA MISE SOUS TENSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/083372    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/089196
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 31.12.2007
CIB :
H03L 7/087 (2006.01), H03L 7/06 (2006.01)
Déposants : SANDISK CORPORATION [US/US]; 1601 McCarthy Blvd., Milpitas, CA 95035-7932 (US) (Tous Sauf US).
CHAPSKI, Stan [US/US]; (US) (US Seulement).
JIN, Darmin [US/US]; (US) (US Seulement).
CHEUNG, Brian [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CHAPSKI, Stan; (US).
JIN, Darmin; (US).
CHEUNG, Brian; (US)
Mandataire : TOTH, Liza K; Brinks Hofer Gilson & Lione, NBC Tower, Suite 3600, 455 North Cityfront Plaza Drive, Chicago, IL 60611-5599 (US)
Données relatives à la priorité :
60/934,917 31.12.2006 US
60/934,918 31.12.2006 US
Titre (EN) SYSTEMS, MODULES, CHIPS, CIRCUITS AND METHODS WITH DELAY TRIM VALUE UPDATES ON POWER-UP
(FR) SYSTÈMES, MODULES, PUCES, CIRCUITS ET PROCÉDÉS AVEC DES MISES À JOUR DE VALEURS D'AJUSTEMENT DE RETARD LORS DE LA MISE SOUS TENSION
Abrégé : front page image
(EN)Timing measurement is performed by a digital oscillator, using a calibration value which is calculated after chip fabrication is completed, and automatically loaded into selection logic at powerup.
(FR)L'invention concerne une mesure de synchronisation réalisée par un oscillateur numérique, en utilisant une valeur de calibrage calculée après la fin de la fabrication de la puce, et automatiquement chargée dans une logique de sélection lors de la mise sous tension.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)