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1. (WO2008082835) RÉDUCTION D'ERREUR POUR UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE PARALLÈLE À ENTRELACEMENT TEMPOREL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/082835    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/086262
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 03.12.2007
CIB :
H03M 1/10 (2006.01)
Déposants : TERADYNE, INC. [US/US]; 700 Riverpark Drive, North Reading, Massachusetts 01864 (US) (Tous Sauf US).
XU, Fang [FR/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : XU, Fang; (US)
Mandataire : PYSHER, Paul A.; Fish & Richardson P.C., PO Box 1022, Minneapolis, MN 55440-1022 (US)
Données relatives à la priorité :
11/618,792 30.12.2006 US
Titre (EN) ERROR REDUCTION FOR PARALLEL, TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER
(FR) RÉDUCTION D'ERREUR POUR UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMÉRIQUE PARALLÈLE À ENTRELACEMENT TEMPOREL
Abrégé : front page image
(EN)A technique for reducing errors in a PTIC (parallel, time-interleaved analog-to-digital converter) consisting of M ADCs involves sampling an input signal with the PTIC and performing M different DFTs, one for each ADC. Elements of the M DFTs are grouped together according to frequency and multiplied by correction matrices to yield a corrected, reconstructed power spectrum for the PTIC. The technique is especially effective at removing gain and phase errors introduced by individual ADCs of the PTIC, including gain and phase errors that vary with frequency.
(FR)L'invention concerne une technique de réduction d'erreurs dans un convertisseur analogique-numérique (ADC) parallèle à entrelacement temporel (PTIC) constitué d'un nombre de convertisseurs analogique-numérique (ADC), impliquant un échantillonnage d'un signal d'entrée avec le PTIC, et l'exécution de M DFT différents, un pour chaque ADC. Des éléments des M DFT sont regroupés ensemble par fréquence et multipliés par des matrices de correction pour produire un spectre de puissance corrigé, reconstruit, pour le PTIC. La technique est particulièrement efficace pour supprimer des erreurs de gain et de phase introduites par des ADC individuels du PTIC, y compris des erreurs de gain et de phase variant avec la fréquence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)