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1. (WO2008082222) MÉTHODES ET MODULE D'ANALYSE DE SIGNAUXANORMAUX DE SIMULATION POUR SYSTÈME D'INSTRUMENTS DE 4~20MA
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/082222    N° de la demande internationale :    PCT/KR2007/006992
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 28.12.2007
CIB :
G21C 17/00 (2006.01)
Déposants : KOREA ATOMIC ENERGY RESEARCH INSTITUTE [KR/KR]; 150-1 Deokjin-dong, Yuseong-gu, Daejeon 305-353 (KR) (Tous Sauf US).
KOO, Kil Mo [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Ko Ryuh [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Dong Ha [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
PARK, Sunhee [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
PARK, Soo Yong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
AHN, Kwang Il [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
SONG, Yong Mann [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
CHOI, Young [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KANG, Hee Yong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
YANG, Joon Eon [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
HA, Jae Joo [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KIM, Sang Baik [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : KOO, Kil Mo; (KR).
KIM, Ko Ryuh; (KR).
KIM, Dong Ha; (KR).
PARK, Sunhee; (KR).
PARK, Soo Yong; (KR).
AHN, Kwang Il; (KR).
SONG, Yong Mann; (KR).
CHOI, Young; (KR).
KANG, Hee Yong; (KR).
YANG, Joon Eon; (KR).
HA, Jae Joo; (KR).
KIM, Sang Baik; (KR)
Mandataire : KWON, Oh-Sig; 4F, Jooeunleaderstel, 921 Dunsan-dong, Seo-gu, Daejeon 302-120 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2006-0138871 29.12.2006 KR
Titre (EN) ABNORMAL SIMULATION SIGNAL ANALYSIS METHODS AND ABNORMAL SIGNAL SIMULATION ANALYSIS MODULE FOR 4~20MA INSTRUMENTAL SYSTEM
(FR) MÉTHODES ET MODULE D'ANALYSE DE SIGNAUXANORMAUX DE SIMULATION POUR SYSTÈME D'INSTRUMENTS DE 4~20MA
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a negative pulse transient signal analysis methods and negative pulse transient signal analysis module for a PC base simulation equivalent circuit capable of grasping and improving error causes through an abnormal signal analysis after configuring a simulation equivalent circuit for a 4~20mA instrument unsatisfied in a temperature environmental impact assessment.
(FR)L'invention porte sur des méthodes et un module d'analyse de signaux transitoires d'impulsion négatives pour un circuit d'équivalent de simulation à base de PC capable de saisir et d'améliorer les causes d'erreurs par une analyse des signaux anormaux après avoir configuré un circuit d'équivalence de simulation pour un instrument de 4~20mA, non satisfait dans une évaluation de l'impact de la température sur l'environnement..
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)