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1. (WO2008081571) DÉTECTEUR DE L'ÉTAT D'UN MÉTAL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE L'ÉTAT D'UN MÉTAL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/081571    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/001429
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 19.12.2007
CIB :
H03K 17/95 (2006.01), G01L 3/10 (2006.01)
Déposants : AZUMA SYSTEMS CO., LTD. [JP/JP]; 1093 Menuma Kumagaya-shi Saitama 3600201 (JP) (Tous Sauf US).
YAMAKAWA, Kazuhiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KANDA, Tetsuo [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YAMAKAWA, Kazuhiro; (JP).
KANDA, Tetsuo; (JP)
Mandataire : HIROSE, Tetsuo; Nakanishi Bldg. 5th Floor 2-5-6, Nishikanda Chiyoda-ku, Tokyo 1010065 (JP)
Données relatives à la priorité :
2007-000007 02.01.2007 JP
2007-019347 30.01.2007 JP
2007-125457 10.05.2007 JP
2007-165721 24.06.2007 JP
Titre (EN) METAL STATE DETECTOR AND METAL STATE DETECTING METHOD
(FR) DÉTECTEUR DE L'ÉTAT D'UN MÉTAL ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE L'ÉTAT D'UN MÉTAL
(JA) 金属状態検出装置及び金属状態検出方法
Abrégé : front page image
(EN)The state of a metal is detected precisely through simple circuitry. The metal state detector comprises a detection coil (L) arranged such that the inductance varies depending on the state of a metal, an oscillation circuit (2) which causes a phase shift in an oscillation wave depending on the variation in inductance of the detection coil (L), and a detection circuit (3) for measuring the phase shift of the oscillation wave by accumulating the phase shift. The detection circuit (3) performs oscillation wave counting processing for counting the number of oscillation waves outputted from the oscillation circuit (2) and judging whether the count reached a predetermined number N or not, and measures the accumulated phase shift of the oscillation wave based on the time required for counting the oscillation waves.
(FR)L'état d'un métal est détecté avec précision grâce à un circuit simple. Le détecteur de l'état d'un métal comprend une bobine de détection (L) ménagée en sorte que l'inductance varie en fonction de l'état d'un métal, un circuit d'oscillation (2) qui provoque un déphasage dans une onde d'oscillation en fonction de la variation de l'inductance de la bobine de détection (L), et un circuit de détection (3) pour mesurer le déphasage de l'onde d'oscillation par l'accumulation du déphasage. Le circuit de détection (3) effectue le traitement du décompte d'ondes d'oscillation afin de compter le nombre d'ondes d'oscillation émises depuis le circuit d'oscillation (2) et estimer si le décompte a atteint un nombre N prédéterminé, et mesure le déphasage accumulé de l'onde d'oscillation en se basant sur le time requis pour compter les ondes d'oscillation.
(JA) 金属の状態を簡単な回路構成で精度良く検出する。 金属の状態に応じてインダクタンスが変化するように配置される検出コイルLと、検出コイルLのインダクタンス変化に応じて発振波に位相ズレを生じさせる発振回路2と、発振波の位相ズレを蓄積させて測定する検出回路3とを備え、該検出回路3は、発振回路2から出力される発振波の数をカウントし、該カウント数が所定数Nに達したか否かを判断する発振波カウント処理を行い、該発振波カウント処理に要した時間にもとづいて、蓄積された発振波の位相ズレを測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)