WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008081484) PROCÉDÉ POUR L'EXAMEN ULTRASONIQUE DE COMPOSANTS MÉTALLIQUES PAR UNE TECHNIQUE DE FOCALISATION PAR OUVERTURE SYNTHÉTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/081484    N° de la demande internationale :    PCT/IT2006/000885
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 29.12.2006
CIB :
G01N 29/24 (2006.01), G01N 29/44 (2006.01)
Déposants : ANSALDO ENERGIA S.p.A. [IT/IT]; Via Nicola Lorenzi, 8, I-16152 Genova (IT) (Tous Sauf US).
PIGNONE, Enrico [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
PASTORINO, Matteo [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : PIGNONE, Enrico; (IT).
PASTORINO, Matteo; (IT)
Mandataire : JORIO, Paolo; c/o Studio Torta S.r.l., Via Viotti, 9, I-10121 Torino (IT)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) A METHOD FOR THE ULTRASONIC INSPECTION OF METAL COMPONENTS BY A SYNTHETIC APERTURE FOCUSING TECHNIQUE
(FR) PROCÉDÉ POUR L'EXAMEN ULTRASONIQUE DE COMPOSANTS MÉTALLIQUES PAR UNE TECHNIQUE DE FOCALISATION PAR OUVERTURE SYNTHÉTIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A method for the ultrasonic inspection of metal components provides: alternatively emitting ultrasonic inspection signals (SI) towards the inside of a metal component (1) and receiving return signals (SR) in each of a plurality of detection positions (ϑI, ϑI+J) of a scanning path of the metal component (1); sampling the return signals (SR), to form first vectors (A-SCANI, A- SCANI+J) including respective series of temporally sorted elements (A-SCANI+J(K) ); defining a synthetic array (SAI) including a plurality of first vectors (A-SCANI, A- SCANI+J) corresponding to respective adjacent detection positions (ϑI, ϑI+J); and focusing the first vectors (A- SCANI, A-SCANI+J) of the synthetic array (SAI). The focusing step comprises applying phase translations (K' ) to the elements (A-SCANI+J(K) ) of the first vectors (A- SCANI, A-SCANI+J) of the synthetic array (SAI). Furthermore, the phase translation (K' ) respectively applied to each element (A-SCANI+J(K) ) is correlated to a position (K) of the element (A-SCANI+J(K) ) itself in the series of elements forming the respective first vector (A-SCANI, A-SCANI+J) of the synthetic array (SAI).
(FR)L'invention concerne un procédé pour l'examen ultrasonique de composants métalliques, le procédé proposant : de façon alternative, l'émission de signaux d'examen ultrasoniques (SI) en direction de l'intérieur d'un composant métallique (1) et la réception de signaux de retour (SR) dans chacune d'une pluralité de positions de détection (ϑI, ϑI+J) d'un trajet de balayage du composant métallique (1); l'échantillonnage des signaux de retour (SR), pour former de premiers vecteurs (A-SCANI, A-SCANI+j) comprenant une série respective d'éléments classés chronologiquement (A-SCANI+J(K)); la définition d'un réseau synthétique (SAI) comprenant une pluralité de premiers vecteurs (A-SCANI, A-SCANI+J) correspondant à des positions de détection adjacentes respectives (ϑI, ϑI+J); et la focalisation des premiers vecteurs (A-SCANI, A-SCANI+J) du réseau synthétique (SAI). L'étape de focalisation comporte l'application de translations de phase (K') aux éléments (A-SCANI+J (K)) des premiers vecteurs (A-SCANI, A-SCANI+J) du réseau synthétique (SAI). En outre, la translation de phase (K') appliquée respectivement à chaque élément (A-SCANI+J(K)) est corrélée à une position (K) de l'élément (A-SCANI+J(K)) lui-même dans la série d'éléments formant le premier vecteur respectif (A-SCANI, A-SCANI+J) du réseau synthétique (SAI).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)