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1. (WO2008081419) MÉTHODES ET SYSTÈMES DE DÉTECTION ET CORRECTION DES CAS DÉVIANTS DU TEMPS DE VÉRIFICATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/081419    N° de la demande internationale :    PCT/IL2006/001501
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 28.12.2006
CIB :
G01R 31/00 (2006.01), G01R 31/14 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01), G06F 19/00 (2006.01)
Déposants : OPTIMALTEST LTD. [IL/IL]; 18 Einstein St, 74140 Nes-Zionna (IL) (Tous Sauf US).
BALOG, Gil [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
LINDE, Reed [US/US]; (US) (US Seulement).
GOLAN, Avi [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : BALOG, Gil; (IL).
LINDE, Reed; (US).
GOLAN, Avi; (IL)
Mandataire : REINHOLD COHN AND PARTNERS; P.O.B. 4060, 61040 Tel-aviv (IL)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR TEST TIME OUTLIER DETECTION AND CORRECTION IN INTEGRATED CIRCUIT TESTING
(FR) MÉTHODES ET SYSTÈMES DE DÉTECTION ET CORRECTION DES CAS DÉVIANTS DU TEMPS DE VÉRIFICATION DE CIRCUITS INTÉGRÉS
Abrégé : front page image
(EN)Methods and systems for semiconductor testing are disclosed. In one embodiment, devices which are testing too slowly are prevented from completing testing, thereby allowing untested devices to begin testing sooner.
(FR)L'invention porte sur des méthodes et systèmes de vérification de semi-conducteurs. Dans une exécution, les dispositifs dont la vérification s'avère trop lente sont écartés et ne peuvent l'achever, ce qui permet aux dispositifs encore non vérifiés de commencer plus tôt leur vérification.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)