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1. (WO2008081334) PIÈGE À IONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/081334    N° de la demande internationale :    PCT/IB2007/004434
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 27.12.2007
CIB :
H01J 49/42 (2006.01), H01J 49/00 (2006.01)
Déposants : THERMO FISHER SCIENTIFIC (BREMEN) GMBH [--/DE]; Hanna-Kunath-Str. 11, 28199 Bremen (DE) (Tous Sauf US).
MAKAROV, Alexander [RU/DE]; (DE) (US Seulement).
MONASTYRSKIY, Mikhail, A. [RU/RU]; (RU) (US Seulement).
GRINFELD, Dmitry, E. [RU/RU]; (RU) (US Seulement)
Inventeurs : MAKAROV, Alexander; (DE).
MONASTYRSKIY, Mikhail, A.; (RU).
GRINFELD, Dmitry, E.; (RU)
Mandataire : FROST, Alex, John; Boult Wade Tennant, Verulam Gardens, 70 Gray's Inn Road, London WC1X 8BT (GB)
Données relatives à la priorité :
0626025.1 29.12.2006 GB
Titre (EN) ION TRAP
(FR) PIÈGE À IONS
Abrégé : front page image
(EN)An ion trap comprises substantially elongate electrodes 10, 20 some of which are curved along their axis of elongation and which define a trapping volume between them. The sectional area of this trapping volume towards the extremities of the trap in the direction of elongation is different to the sectional area away from its extremities (eg towards the middle of the trap). In a preferred embodiment, the trap has a plurality of elongate electrodes, wherein opposed electrodes have different radii of curvature so that the trap splays towards its extremities. Thereby, a wider mass range of ions can be trapped and ejected, a higher space charge capacity (for a given trap length) is provided, and sharper ion beam focussing on ejection is possible.
(FR)
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)