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1. (WO2008081149) PROCEDE OPTICO-INFORMATIQUE DE MESURE 3D D'UN OBJET EN RELIEF PAR PROJECTION DE FRANGES ET UTILISATION D'UNE METHODE A DECALAGE DE PHASE, SYSTEME CORRESPONDANT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/081149    N° de la demande internationale :    PCT/FR2007/052551
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 18.12.2007
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
Déposants : PHOSYLAB [FR/FR]; Parc Les Couturiers, 16 rue des Couturières, F-67240 Bischwiller (FR) (Tous Sauf US).
FISCHER, Sylvain [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : FISCHER, Sylvain; (FR)
Mandataire : MICHELET, Alain; Cabinet HARLE et PHELIP, 7 rue de Madrid, F-75008 Paris (FR)
Données relatives à la priorité :
0655661 19.12.2006 FR
Titre (EN) OPTICAL COMPUTERIZED METHOD FOR THE 3D MEASUREMENT OF AN OBJECT BY FRINGE PROJECTION AND USE OF A PHASE-SHIFT METHOD, CORRESPONDING SYSTEM
(FR) PROCEDE OPTICO-INFORMATIQUE DE MESURE 3D D'UN OBJET EN RELIEF PAR PROJECTION DE FRANGES ET UTILISATION D'UNE METHODE A DECALAGE DE PHASE, SYSTEME CORRESPONDANT
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a computerized optical method for the 3D measurement of the external surface of an relief object by fringe projection on said object and use of phase-shift method in which four fringe projection axis are implemented on the object, the origin of each projecting axis being considered as an illumination point located substantially on each summit of a virtual tetrahedron, the object being placed substantially in the centre of said tetrahedron, wherein the exposures are realized from four exposition points located substantially along four exposure axis, each exposure axis being the median of the of the four tetrahedron formed by the four projection axis triplets, the four exposure points being at a distance from the object such that at each exposure point, each image includes at least one part of each of the three surfaces of the object capable of being lighted by the three illumination points of the triple projection axis defining by its median the exposure axis of the said exposure point, and wherein a set of images is acquired in the computer system, of each of the six surfaces capable of being illuminated and defined by six pairs of illumination points. A corresponding system completes the invention.
(FR)L'invention concerne un procédé optico-informatique de mesure 3D de la surface extérieure d'un objet en relief par projection de franges sur ledit objet et utilisation d'une méthode à décalage de phase dans lequel on met en oeuvre quatre axes de projection des franges sur l'objet, l'origine de chaque axe de projection étant considéré comme un point d'illumination disposé sensiblement à chacun des quatre sommets d'un tétraèdre virtuel, l'objet étant placé sensiblement au centre dudit tétraèdre, et en ce que l'on réalise les prises de vue à partir de quatre points de prise de vue disposés sensiblement le long de quatre axes de prise de vue, chacun des axes de prise de vue étant la médiane d'un des quatre trièdres formés par les quatre triplets d'axes de projection, les quatre points de prise de vue étant à une distance de l'objet telle qu'en chaque point de prise de vue, chaque image inclut au moins une partie de chacune des trois surfaces de l'objet pouvant être éclairée par les trois points d'illumination du triplet d'axes de projection définissant par sa médiane l'axe de prise de vue dudit point de prise de vue, et en ce que l'on acquière dans l'équipement informatique un ensemble d'images de chacune des six surfaces pouvant être illuminées et définies par six couples de points d'illumination. Un système correspondant complète l'invention.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)