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1. (WO2008080602) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE LA SURFACE D'UNE PIÈCE, NOTAMMENT D'UNE STRUCTURE DE FIBRES ET/OU D'UNE BANDE DE FIBRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/080602    N° de la demande internationale :    PCT/EP2007/011423
Date de publication : 10.07.2008 Date de dépôt international : 27.12.2007
CIB :
G01N 21/55 (2006.01), G01B 11/27 (2006.01)
Déposants : iSAM AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Alexanderstrasse 46, 45472 Mülheim an der Ruhr (DE) (Tous Sauf US).
BREUER, Volker [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : BREUER, Volker; (DE)
Mandataire : HÜBSCH & WEIL; Patentanwalt Dirk Hübsch, Rechtsanwalt Christian Weil, Postfach 50 14 63, 50974 Köln (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2006 062 522.6 29.12.2006 DE
20 2006 019 726.5 29.12.2006 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR ANALYSE DER OBERFLÄCHE EINES WERKSTÜCKES, INSBESONDERE EINES FASERGELEGES UND/ODER EINES FASERGEWEBES
(EN) METHOD FOR ANALYZING THE SURFACE OF A WORK PIECE, ESPECIALLY OF A LAY OF FIBERS AND/OR WOVEN FIBERS
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE LA SURFACE D'UNE PIÈCE, NOTAMMENT D'UNE STRUCTURE DE FIBRES ET/OU D'UNE BANDE DE FIBRES
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren bzw. eine Vorrichtung zur Analyse und/oder Detektion der Oberfläche eines Werkstückes (2), insbesondere eines Fasergeleges und/oder eines Fasergewebes. Eine verbesserte Analyse ist dadurch gegeben, dass die Lichtquelle (3) parallel gebündeltes licht emittiert, dass das parallel gebündelte Licht auf die Oberfläche des Werkstückes (2), nämlich auf einen Bereich eines faserähnlichen Strukturelementes (a bzw. b) auf trifft, dass zur Abbildung möglicher Reflexionen und/oder eines Reflexionsmusters (A bzw. B) mindestens eine Projektionsfläche (4) vorgesehen ist, wobei die Existenz einer auf der Projektionsfläche (4) sich darstellenden Reflexion und/oder eines spezifischen Reflexionsmusters (A bzw. B) ermittelt wird und/oder aus der jeweiligen Abbildung der Reflexion bzw. des jeweiligen Reflexionsmusters (A bzw. B) der Ausrichtungswinkel (ß) des faserähnlichen Strukturelementes bzw. der faserähnlichen Strukturelemente relativ zu einer bestimmten Achse und/oder in einer bestimmten Ebene des Werkstückes ermittelt wird bzw. werden.
(EN)The invention relates to a method and a device for analyzing and/or detecting the surface of a work piece (2), especially of a lay of fibers and/or woven fibers. The aim of the invention is to improve the aforementioned analysis method and device. To achieve this, the light source (3) emits light that is bundled in parallel, the light that is bundled in parallel is incident on the surface of the work piece (2), namely on an area of the fibrous structural element (a or b), at least one projection surface (4) is provided for imaging possible reflections and/or a reflection pattern (A or B), the existence of a reflection present on the projection surface and/or of a specific reflection pattern (A or B) being determined, and/or the orientation angle (β) of the fibrous structural element or of the fibrous structural elements relative to a determined axis and/or relative to a defined plane of the work piece being determined from the respective image of the reflection or of the respective reflection pattern (A or B).
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif d'analyse et/ou de détection de la surface d'une pièce (2), notamment d'une structure de fibres et/ou d'une bande de fibres. L'analyse est améliorée du fait que la source lumineuse (3) émet de la lumière mise en faisceaux parallèles, que la lumière mise en faisceaux parallèles est incidente sur la surface de la pièce (2), notamment sur une zone d'un élément structurel fibreux (a ou b), et qu'au moins une surface de projection (4) est prévue pour la reproduction de réflexions possibles et/ou d'un motif de réflexion (A ou B). L'existence d'une réflexion reproduite sur la surface de projection (4) et/ou d'un motif de réflexion spécifique (A ou B) est déterminée et/ou l'angle d'orientation (ß) du ou des éléments structurels fibreux par rapport à un axe défini et/ou un plan défini de la pièce est déterminé à partir de la reproduction respective de la réflexion ou du motif de réflexion respectif (A ou B).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)