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1. (WO2008079349) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR UTILISER UNE CARACTÉRISATION DE FORME DE SONDE À BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/079349    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/026193
Date de publication : 03.07.2008 Date de dépôt international : 21.12.2007
CIB :
G01B 21/30 (2006.01), H01J 37/28 (2006.01)
Déposants : VEECO METROLOGY INC. [US/US]; 112 Robin Hill Road, Santa Barbara, CA 93117 (US) (Tous Sauf US).
BAO, Tianming [US/US]; (US) (US Seulement).
LIU, Hao-chih [US/US]; (US) (US Seulement).
GREGORY, Dahlen, A. [US/US]; (US) (US Seulement).
JAIN, Rohit [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BAO, Tianming; (US).
LIU, Hao-chih; (US).
GREGORY, Dahlen, A.; (US).
JAIN, Rohit; (US)
Mandataire : VADIM, Braginsky; Patterson, Thuente, Skaar & Christensen, P.A., 4800 IDS Center, 80 South Eighth Street, Minneapolis, MN 55402-2100 (US)
Données relatives à la priorité :
11/645,092 22.12.2006 US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR UTILIZING SCANNING PROBE SHAPE CHARACTERIZATION
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS POUR UTILISER UNE CARACTÉRISATION DE FORME DE SONDE À BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)A scanning probe microscope's probe tip dimensions as they exist or existed for a certain data or measurement are inferred based on probe activity taking place since a probe characterization procedure was performed. The inferred probe tip dimensions can be used to correct nanoscale measurements taken by the probe to account for changes in the probe's geometry such as wear.
(FR)Des dimensions de pointe de sonde d'un microscope de sonde à balayage telles qu'elles existent ou ont existé pour certaines données ou une certaine mesure sont supposées sur la base d'une activité de sonde ayant lieu étant donné qu'une procédure de caractérisation de sonde a été effectuée. Les dimensions de pointe de sonde supposées peuvent être utilisées pour corriger des mesures à l'échelle nanoscopique prises par la sonde pour expliquer des changements de la géométrie de la sonde tels que l'usure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)