WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008078882) PROCÉDÉ DE CONSTRUCTION DE DONNÉES DE CARTE POUR SONDER UN TESTEUR, ET PROCÉDÉ POUR TESTER UNE PUCE SEMI-CONDUCTRICE À L'AIDE DE CELUI-CI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/078882    N° de la demande internationale :    PCT/KR2007/006395
Date de publication : 03.07.2008 Date de dépôt international : 10.12.2007
CIB :
H01L 21/66 (2006.01)
Déposants : SECRON CO., LTD. [KR/KR]; 4-4, Chaam-dong, Cheonan-si, Chungcheongnam-do, 330-200 (KR) (Tous Sauf US).
KIM, Dong Il [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
KANG, Kyeong Yong [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : KIM, Dong Il; (KR).
KANG, Kyeong Yong; (KR)
Mandataire : SHIN, Dongjoon; No. 402, Seocho First Bldg., 1624-2, Seocho-dong, Seocho-gu, Seoul, 137-878 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2006-0132987 22.12.2006 KR
Titre (EN) METHOD FOR BUILDING MAP DATA FOR PROBING TESTER, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP USING THE SAME
(FR) PROCÉDÉ DE CONSTRUCTION DE DONNÉES DE CARTE POUR SONDER UN TESTEUR, ET PROCÉDÉ POUR TESTER UNE PUCE SEMI-CONDUCTRICE À L'AIDE DE CELUI-CI
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed herein are a method of building map data for a probe station and a method of testing semiconductor chips using the same. In the method of building map data for a probe station for a wafer on which size of semiconductor chips and interval between semiconductor chips are differently formed, formed on the wafer, is divided into N groups each having a uniform size and interval, the N groups are set to N virtual chips, basic map data is built based on the N virtual chips, a chip matrix is built for a plurality of semiconductor chips included in each virtual chip, and the map data is competed by adding N chip matrices for the N virtual chips to the basic map data.
(FR)L'invention concerne un procédé de construction de données de carte pour une station de sonde et un procédé de test de puces semi-conductrices utilisant celui-ci. Dans le procédé de construction de données de carte pour une station de sonde pour une tranche sur laquelle une dimension de puces semi-conductrices et un intervalle entre des puces semi-conductrices sont différemment formés, la tranche étant divisée en N groupes ayant chacun une dimension uniforme et un intervalle uniforme, les N groupes étant configurés en N puces virtuelles, les données de carte basique sont construites sur la base des N puces virtuelles, une matrice de puce est construite pour une pluralité de puces semi-conductrices comprises sur chaque puce virtuelle, et les données de carte sont complétées par l'ajout de N matrices de puce pour les N puces virtuelles aux données de carte basique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)