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1. (WO2008060904) OUTIL D'ÉTALONNAGE POUR SYSTÈME DE MESURE NON LINÉAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2008/060904 N° de la demande internationale : PCT/US2007/083810
Date de publication : 22.05.2008 Date de dépôt international : 06.11.2007
CIB :
G01L 27/00 (2006.01) ,A61F 9/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
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Essai ou étalonnage des appareils pour la mesure de la pression des fluides
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
F
FILTRES IMPLANTABLES DANS LES VAISSEAUX SANGUINS; PROTHÈSES; DISPOSITIFS MAINTENANT LE PASSAGE OU ÉVITANT L'AFFAISSEMENT DE STRUCTURES CORPORELLES TUBULAIRES, P.EX. STENTS; DISPOSITIFS D'ORTHOPÉDIE, DE SOINS OU DE CONTRACEPTION; FOMENTATION; TRAITEMENT OU PROTECTION DES YEUX OU DES OREILLES; BANDAGES, PANSEMENTS OU GARNITURES ABSORBANTES; NÉCESSAIRES DE PREMIER SECOURS
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Procédés ou dispositifs pour le traitement des yeux; Dispositifs pour mettre en place des verres de contact; Dispositifs pour corriger le strabisme; Appareils pour guider les aveugles; Dispositifs protecteurs pour les yeux, portés sur le corps ou dans la main
Déposants :
ADVANCED MEDICAL OPTICS, INC. [US/US]; 1700 E. St. Andrew Place Santa Ana, CA 92705, US (AllExceptUS)
HAJISHAH, Abraham [US/US]; US (UsOnly)
KING, David, A. [US/US]; US (UsOnly)
CLAUS, Michael, J. [US/US]; US (UsOnly)
Inventeurs :
HAJISHAH, Abraham; US
KING, David, A.; US
CLAUS, Michael, J.; US
Mandataire :
LIU, Joseph, K.; C/o Advanced Medical Optics, Inc. 1700 E. St. Andrew Place Santa Ana, CA 92705, US
Données relatives à la priorité :
11/558,43209.11.2006US
Titre (EN) CALIBRATION UTILITY FOR NON-LINEAR MEASUREMENT SYSTEM
(FR) OUTIL D'ÉTALONNAGE POUR SYSTÈME DE MESURE NON LINÉAIRE
Abrégé :
(EN) A method and system for calibrating an analog sensor used in a digital measurement system is provided. The design comprises generating a precise pressure value set at multiple calibration points and supplying said precise pressure value set to an uncalibrated pressure sensor (403), detecting sensor changes for the uncalibrated pressure sensor (403) based on each precise pressure value generated, polling an actual pressure reading associated with a sensor change for the uncalibrated pressure sensor (403) for each calibration point, and establishing a mathematical relationship between measured value readings and actual pressure for the uncalibrated sensor. Establishing the mathematical relationship converts the uncalibrated sensor to a newly calibrated sensor. A known good sensor (404) may be employed to enhance calibration reliability. The method and system for calibrating an analog sensor are applied to pressure transducers in phacoemulsification machines that are used in eye surgery of cataracts.
(FR) L'invention concerne un procédé et un système d'étalonnage d'un capteur analogique utilisé dans un système de mesure numérique. Le procédé consiste à générer un ensemble de valeurs de pression précises pour des points d'étalonnage multiples et à fournir ledit ensemble de valeurs de pression précises à un capteur de pression non étalonné, à détecter des modifications de capteur pour le capteur de pression non étalonné en fonction de chaque valeur de pression précise générée, à vérifier une lecture de pression réelle associée à une modification de capteur pour le capteur de pression non étalonné pour chaque point d'étalonnage, et à établir une relation mathématique entre des lectures de valeurs mesurées et une pression réelle pour le capteur non étalonné. L'établissement de la relation mathématique permet de convertir le capteur non étalonné en un capteur nouvellement étalonné. Un bon capteur connu peut être utilisé pour améliorer la fiabilité d'étalonnage.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP2080003CA2669651AU2007319510