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1. (WO2008056702) PROCÉDÉ DE MESURE D'INDICE DE RÉFRACTION, APPAREIL DE MESURE D'INDICE DE RÉFRACTION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2008/056702 N° de la demande internationale : PCT/JP2007/071642
Date de publication : 15.05.2008 Date de dépôt international : 07.11.2007
CIB :
G01N 21/41 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41
Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
Déposants :
国立大学法人大阪大学 OSAKA UNIVERSITY [JP/JP]; 〒5650871 大阪府吹田市山田丘1番1号 Osaka 1-1, Yamadaoka Suita-shi Osaka 5650871, JP (AllExceptUS)
伊東一良 ITOH, Kazuyoshi; null (UsOnly)
小関泰之 OZEKI, Yasuyuki; null (UsOnly)
磯部圭佑 ISOBE, Keisuke; null (UsOnly)
玉木隆幸 TAMAKI, Takayuki; null (UsOnly)
片岡省吾 KATAOKA, Shougo; null (UsOnly)
川澄健人 KAWASUMI, Takehito; null (UsOnly)
Inventeurs :
伊東一良 ITOH, Kazuyoshi; null
小関泰之 OZEKI, Yasuyuki; null
磯部圭佑 ISOBE, Keisuke; null
玉木隆幸 TAMAKI, Takayuki; null
片岡省吾 KATAOKA, Shougo; null
川澄健人 KAWASUMI, Takehito; null
Mandataire :
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ IKEUCHI SATO & PARTNER PATENT ATTORNEYS; 〒5306026 大阪府大阪市北区天満橋1丁目8番30号OAPタワー26階 Osaka 26th Floor, OAP TOWER 8-30, Tenmabashi 1-chome Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5306026, JP
Données relatives à la priorité :
2006-30203807.11.2006JP
Titre (EN) REFRACTION INDEX MEASURING METHOD, REFRACTION INDEX MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL MEMBER
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'INDICE DE RÉFRACTION, APPAREIL DE MESURE D'INDICE DE RÉFRACTION ET PROCÉDÉ DE FABRICATION D'UN ÉLÉMENT OPTIQUE
(JA) 屈折率測定方法および屈折率測定装置、光学部材の製造方法
Abrégé :
(EN) A method and an apparatus for measuring a local refraction index of transparent materials such as an optical member are provided. Furthermore, an optical member manufacturing method having such measuring method introduced in an inspection step is also provided. To a point to be measured, which has a refraction index at a known reference point or an unknown refraction index within the transparent material, ultrashort pulse beams are focused and applied to generate FWM light by a four-wave-mixing step, and the refraction index of the point to be measured is obtained by using intensity of the FWM light at the reference point and intensity of the FWM light at the point to be measured.
(FR) L'invention concerne un procédé et un appareil de mesure d'un indice de réfraction local de matériaux transparents tels qu'un élément optique. De plus, l'invention concerne également un procédé de fabrication d'un élément optique dont l'étape d'inspection comprend un tel procédé de mesure. A un point à mesurer dans un matériau transparent dont l'indice de réfraction se situe à un point de référence connu ou dont l'indice de réfraction est inconnu, des faisceaux pulsés ultracourts sont amenés à converger et sont appliqués pour générer une lumière FWM dans une étape de mélange de quatre ondes ; et l'indice de réfraction du point à mesurer est obtenu par l'intensité de la lumière FWM au point de référence et l'intensité de la lumière FWM au point à mesurer.
(JA)  光学部材などの透明材料の局所的な屈折率を計測することができる測定方法およびその測定装置、さらには、この測定方法を検査工程に導入した光学部材の製造方法を得る。透明材料内の屈折率が既知の基準点および屈折率が未知の被測定点に対して、超短光パルスビームを集光照射して四光波混合過程によるFWM光を生じさせ、前記基準点での前記FWM光の強度と、前記被測定点での前記FWM光の強度とを用いて、前記被測定点の屈折率を求める。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)