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1. (WO2008056541) DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC, PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2008/056541 N° de la demande internationale : PCT/JP2007/070738
Date de publication : 15.05.2008 Date de dépôt international : 24.10.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 14.04.2008
CIB :
G01R 31/28 (2006.01) ,G06F 17/50 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
17
Equipement ou méthodes de traitement de données ou de calcul numérique, spécialement adaptés à des fonctions spécifiques
50
Conception assistée par ordinateur
Déposants :
独立行政法人 科学技術振興機構 Japan Science and Technology Agency [JP/JP]; 〒3320012 埼玉県川口市本町四丁目1番8号 Saitama 1-8, Honcho 4-chome, Kawaguchi-shi, Saitama 3320012, JP (AllExceptUS)
国立大学法人 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology [JP/JP]; 〒8048550 福岡県北九州市戸畑区仙水町1番1号 Fukuoka 1-1, Sensui-cho, Tobata-ku, Kitakyushu-shi, Fukuoka 8048550, JP (AllExceptUS)
株式会社システム・ジェイディー System JD Co., Ltd. [JP/JP]; 〒8140001 福岡県福岡市早良区百道浜三丁目8番33号 Fukuoka 8-33, Momochihama 3-choume, Sawara-ku, Fukuoka-shi, Fukuoka 8140001, JP (AllExceptUS)
温 暁青 WEN, Xiaoqing [CN/JP]; JP (UsOnly)
梶原 誠司 KAJIHARA, Seiji [JP/JP]; JP (UsOnly)
宮瀬 絋平 MIYASE, Kohei [JP/JP]; JP (UsOnly)
皆本 義弘 MINAMOTO, Yoshihiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
伊達 博 DATE, Hiroshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs :
温 暁青 WEN, Xiaoqing; JP
梶原 誠司 KAJIHARA, Seiji; JP
宮瀬 絋平 MIYASE, Kohei; JP
皆本 義弘 MINAMOTO, Yoshihiro; JP
伊達 博 DATE, Hiroshi; JP
Mandataire :
羽立 幸司 HADATE, Koji; 〒8140001 福岡県福岡市早良区百道浜三丁目8番33号 福岡システムLSI総合開発センター Fukuoka INSTITUTE OF SYSTEM LSI DESIGN INDUSTRY, FUKUOKA 8-33, Momochihama 3-choume Sawara-ku, Fukuoka-shi Fukuoka 8140001, JP
Données relatives à la priorité :
2006-30101206.11.2006JP
Titre (EN) DIAGNOSTIC DEVICE, DIAGNOSTIC METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC, PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC, PROGRAMME ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 診断装置、診断方法、プログラム及び記録媒体
Abrégé :
(EN) A diagnostic device providing a favorable diagnosis result by further improving the diagnosis resolution. A diagnostic device (1) has a symbol inserting section (3) which is composed of an active element symbol inserting sub-section (5) and a passive element symbol inserting sub-section (7), an occurrence probability imparting section (9), and equivalent occurrence probability imparting section (11), and a switching section (13). A per-test X failure diagnosis flow by the diagnostic device (1) is structured by a failure information collection stage and a diagnosis conclusion stage. The layout of a deep submicron LSI circuit frequently needs multilayer interconnection and information on vias to be widely used is used. Therefore, the passive element symbol inserting sub-section (7) can indicate defective portions at the via level, and the diagnosis resolution is significantly improved. The occurrence probability imparting section (9) uses a new diagnosis value and takes the occurrence probability of a logical combination of possible failures which may occur into consideration. As a result, the actual operation of a deep submicron LSI circuit is well reflected, and is useful for improvement of the diagnosis resolution.
(FR) Dispositif de diagnostic donnant un résultat de diagnostic favorable en améliorant en outre la résolution du diagnostic. Un dispositif de diagnostic (1) comporte une section d'insertion de symboles (3) qui est composée d'une sous-section d'insertion de symboles d'éléments actifs (5) et une sous-section d'insertion de symboles d'éléments passifs (7), une section conférant des probabilités d'occurrence (9), une section conférant des probabilités d'occurrence équivalentes (11), et une section de commutation (13). Un flux de diagnostic de défaillance X par test par le dispositif de diagnostic est structuré par une étape de collecte des informations d'échec et une étape de conclusion de diagnostic. La configuration d'un circuit LSI submicronique profond nécessite une interconnexion multi-couches et des informations concernant les trous d'interconnexion à utiliser sont utilisées. Par conséquent, la sous-section d'insertion de symboles d'éléments passifs (7) peut indiquer des parties défectueuses à l'échelle des trous d'interconnexion, et la résolution du diagnostic est améliorée de façon significative. La section conférant des probabilités d'occurrence (9) utilise une nouvelle valeur de diagnostic et prend en considération la probabilité d'occurrence d'une combinaison logique de défaillances possibles qui peuvent se produire. En conséquence, le fonctionnement réel d'un circuit LSI submicronique profond est bien retracé, et est utile en vue d'améliorer la résolution du diagnostic.
(JA) 診断の分解能をさらに向上させて良好な診断結果を得ることが可能な診断装置等を提供する。診断装置1は記号挿入部3を備え、記号挿入部3は能動素子用記号挿入部5と受動素子用記号挿入部7を有する。診断装置1は発生確率付与部9と等価発生確率付与部11と切替部13を備える。診断装置1によるパーテストX故障診断フローは故障情報の収集ステージと診断の結論を出すステージで構成される。受動素子用記号挿入部7により、ディープサブミクロンLSI回路のレイアウトがしばしば多層配線を必要とし、広範囲で使用されるビアの情報が利用されるのでビアレベルでの欠陥個所を示すことが可能になり診断の分解能が大幅に向上する。発生確率付与部9により、新しい診断値を使用し、とりうる可能性のある故障の論理的組合せの発生確率を考慮するのでディープサブミクロンLSI回路の実動作がより良く反映され、診断の分解能の向上に役立つ。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)
Également publié sous:
US20100064191