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1. (WO2008053530) PROCÉDÉ DE QUANTIFICATION D'ÉCHANTILLONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2008/053530 N° de la demande internationale : PCT/JP2006/321757
Date de publication : 08.05.2008 Date de dépôt international : 31.10.2006
CIB :
G01N 27/62 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
62
en recherchant l'ionisation des gaz; en recherchant les décharges électriques, p.ex. l'émission cathodique
Déposants :
株式会社島津製作所 SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 〒6048511 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1 Kyoto 1, Nishinokyo-Kuwabaracho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511, JP (AllExceptUS)
宮川 治彦 MIYAGAWA, Haruhiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs :
宮川 治彦 MIYAGAWA, Haruhiko; JP
Mandataire :
鹿島 義雄 KASHIMA, Yoshio; 〒5300052 大阪府大阪市北区南扇町7丁目2番ユニ東梅田409号 新生国際特許事務所内 Osaka SHINSEI & Co. 409 Yuni Higashi-Umeda, 7-2, Minami Ogi-machi, Kita-ku, Osaka-city, Osaka 5300052, JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SAMPLE QUANTIFICATION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE QUANTIFICATION D'ÉCHANTILLONS
(JA) 測定物質定量方法
Abrégé :
(EN) A sample quantification method for quantifying a sample characterized by comprising: the database memory step of storing database having a relative calibration curve registered therein; the internal standard measurement step of measuring an internal standard of a known concentration and thus obtaining the mass spectrum of the internal standard; the absolute value computing step of forming a chromatogram based on the mass spectrum of the internal standard and computing the peak area or height of the internal standard; the sample measurement step of measuring the sample and thus obtaining the mass spectrum of the sample; the measurement value computing step of forming a chromatogram based on the mass spectrum of the sample and computing the peak area or height of the sample; and the sample concentration computing step of computing the concentration of the sample based on the relative calibration curve, the peak area or height of the internal standard and the peak area or height of the sample.
(FR) Procédé de quantification d'échantillon consistant: a mettre en mémoire une base de données dans laquelle est enregistrée une courbe d'étalonnage relative; à déterminer une norme interne pour une concentration connue et obtenir ainsi le spectre de masse de la norme interne; à calculer une valeur absolue pour la formation d'un chromatogramme basé sur le spectre de masse de la norme interne et calculer la zone de crête ou la hauteur de la norme interne; à mesurer l'échantillon et à en obtenir le spectre de masse; à calculer la valeur de mesure pour la formation du chromatogramme basé sur le spectre de masse de l'échantillon et à calculer la zone de crête ou la hauteur de l'échantillon; et à calculer la concentration de l'échantillon sur la base de la courbe d'étalonnage relative, la zone de crête ou la hauteur de la norme interne et la zone de crête ou la hauteur de l'échantillon.
(JA)  測定物質を定量する測定物質定量方法であって、相対検量線が登録されたデータベースを記憶させるデータベース記憶ステップと、既知の濃度の内部標準物質を測定することにより、内部標準物質のマススペクトルを得る内部標準物質測定ステップと、内部標準物質のマススペクトルに基づいて、クロマトグラムを作成して内部標準物質のピーク面積又は高さを算出する絶対値算出ステップと、測定物質を測定することにより、測定物質のマススペクトルを得る測定物質測定ステップと、測定物質のマススペクトルに基づいて、クロマトグラムを作成して測定物質のピーク面積又は高さを算出する測定値算出ステップと、相対検量線、内部標準物質のピーク面積又は高さ、並びに、測定物質のピーク面積又は高さに基づいて、測定物質の濃度を算出する測定物質濃度算出ステップとを含むことを特徴とする。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Japonais (JA)
Langue de dépôt : Japonais (JA)
Également publié sous:
US20100100335CN101529239JP4835694