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1. (WO2008051093) INSTRUMENT SIFT-MS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international

N° de publication : WO/2008/051093 N° de la demande internationale : PCT/NZ2007/000313
Date de publication : 02.05.2008 Date de dépôt international : 19.10.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 19.08.2008
CIB :
H01J 49/40 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26
Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34
Spectromètres dynamiques
40
Spectromètres à temps de vol
Déposants :
SYFT TECHNOLOGIES LIMITED [NZ/NZ]; 3 Craft Place Middleton Christchurch, NZ (AllExceptUS)
WILSON, Paul, Francis [NZ/NZ]; NZ (UsOnly)
PECK, Geoffrey, Charles [NZ/NZ]; NZ (UsOnly)
Inventeurs :
WILSON, Paul, Francis; NZ
PECK, Geoffrey, Charles; NZ
Mandataire :
ELLIS VERBOEKET TERRY; Level 12, Forsyth Barr House 45 Johnston Street The Terrace Wellington 6143, NZ
Données relatives à la priorité :
54991119.10.2006NZ
Titre (EN) A SIFT-MS INSTRUMENT
(FR) INSTRUMENT SIFT-MS
Abrégé :
(EN) The invention described is a method of improving the signal intensity of the precursor ions constrained in a carrier gas in the flow tube of a SlFT-MS instrument. The improved method is the step of applying an electrical potential to the flow tube to lower the diffusive loss of ions within the flow tube. The lowered diffusive loss of ions increases the sensitivity of the technique. An apparatus for carrying out the method is dercribed.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'amélioration de l'intensité de signal des ions précurseurs contraints dans un gaz porteur dans le tube d'écoulement d'un instrument SIFT-MS. Le procédé amélioré est l'étape d'application d'un potentiel électrique sur le tube d'écoulement pour y abaisser la perte de diffusion d'ions. La diminution de perte de diffusion des ions augmente la sensibilité de la technique. Un appareil pour exécuter le procédé est également décrit.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)
Également publié sous:
EP2095398US20110024614CA2666288AU2007309812