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1. (WO2008048532) APPAREIL DE TEST POUR APPLIQUER UNE CONTRAINTE À UNE ÉPROUVETTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/048532    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/021968
Date de publication : 24.04.2008 Date de dépôt international : 12.10.2007
CIB :
G01N 15/08 (2006.01)
Déposants : EXXONMOBIL UPSTREAM RESEARCH COMPANY\ [US/US]; P.O.box 2189, (corp-urc-sw 341), Houston, TX 77252-2189 (US) (Tous Sauf US).
SYMINGTON, William, A. [US/US]; (US) (US Seulement).
OTTEN, Glenn, A. [US/US]; (US) (US Seulement).
THOMAS, Michele, M. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SYMINGTON, William, A.; (US).
OTTEN, Glenn, A.; (US).
THOMAS, Michele, M.; (US)
Mandataire : COLLINS, Douglas, J.; Exxonmobil Upstream Research Company, P.o.box 2189, (corp-urc-sw 341), Houston, TX 77252-2189 (US)
Données relatives à la priorité :
60/851,785 13.10.2006 US
Titre (EN) TESTING APPARATUS FOR APPLYING A STRESS TO A TEST SAMPLE
(FR) APPAREIL DE TEST POUR APPLIQUER UNE CONTRAINTE À UNE ÉPROUVETTE
Abrégé : front page image
(EN)A testing apparatus which is suitable for applying a stress load to a test specimen is provided. The testing apparatus may be used to simulate lithostatic stress on a test specimen, which may be, for example, a portion of a geologic formation. The testing apparatus may also be used in a method of evaluating the expected production of fluids obtainable from in situ pyrolysis of oil shale.
(FR)La présente invention concerne un appareil conçu pour l'application d'une charge de contrainte à une éprouvette. L'appareil de test convient pour simuler une contrainte lithostatique appliquée à une éprouvette telle qu'une partie d'une formation géologique. L'appareil conviendra également pour un procédé destiné à l'évaluation de la production attendue de fluides pouvant s'obtenir à partir d'une pyrolyse in situ de schistes bitumineux.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)