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1. (WO2008047935) PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION, DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT, DISPOSITIF ET PROGRAMME DE COLLATION DE MODÈLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/047935    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/070511
Date de publication : 24.04.2008 Date de dépôt international : 16.10.2007
CIB :
G06T 7/00 (2006.01)
Déposants : SONY CORPORATION [JP/JP]; 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075 (JP) (Tous Sauf US).
ABE, Hiroshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ABE, Hiroshi; (JP)
Mandataire : TANABE, Shigemoto; Tokiwa Building 5th Floor 6-4, Osaki 3-chome Shinagawa-ku, Tokyo 1410032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-285353 19.10.2006 JP
Titre (EN) PATTERN IDENTIFYING METHOD, REGISTRATION DEVICE, COLLATING DEVICE AND PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ D'IDENTIFICATION, DISPOSITIF D'ENREGISTREMENT, DISPOSITIF ET PROGRAMME DE COLLATION DE MODÈLES
(JA) パターン識別方法、登録装置、照合装置及びプログラム
Abrégé : front page image
(EN)It is an object to propose a pattern identifying device, etc., authenticating accuracy of which can be improved. A pattern identifying method carries out calculating more than two-shape values indicative of a pattern shape with respect to each of living body patterns obtained from a plurality of living body samples, calculating the center of a distribution of the more than two-shape values and a value indicative of the degree of extent from the center, calculating a distance between the more than two-shape values obtained from a registration subject or a collating subject collated with registration data and the center of the distribution of the more than two-shape values by means of the value indicative of the degree of extent from the center, and discarding the pattern in the case that the distance is larger than a predetermined threshold value.
(FR)Un but de l'invention consiste à proposer un dispositif d'identification de modèles, etc., dont la précision d'authentification peut être améliorée. Un procédé d'identification de modèles effectue le calcul de plus de deux valeurs de forme indicatrices d'une forme de modèle par rapport à chacun des modèles de corps vivant obtenus à partir d'une pluralité d'échantillons de corps vivant, le calcul du centre d'une distribution de plus de deux valeurs de forme et d'une valeur indicatrice du degré d'étendue à partir du centre, le calcul d'une distance entre les plus de deux valeurs de forme obtenues à partir d'un sujet d'enregistrement ou d'un sujet faisant l'objet d'une collation collationné à des données d'enregistrement et le centre de la distribution des plus de deux valeurs de forme au moyen de la valeur indicatrice du degré d'étendue à partir du centre, et l'abandon du modèle dans le cas où la distance est plus grande qu'une valeur de seuil prédéterminée.
(JA)認証精度を向上し得るパターン識別方法等を提案する。複数の生体サンプルから得られる生体パターンそれぞれについて、パターン形状を表す2以上の形状値を算出し、2以上の形状値の分布の中心と、その中心からの広がりの程度を表す値とを算出し、登録対象又は登録データと照合される照合対象から得られるパターンの2以上の形状値と、2以上の形状値の分布の中心との距離を、その中心からの広がりの程度を表す値を用いて算出し、距離が所定の閾値よりも大きい場合に、パターンを破棄するようにした。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)