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1. (WO2008044421) TESTEUR ET PROCÉDÉ DE COMMANDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/044421    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/067764
Date de publication : 17.04.2008 Date de dépôt international : 12.09.2007
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
KUMAKI, Norio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KUMAKI, Norio; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
Données relatives à la priorité :
11/546,926 12.10.2006 US
11/546,929 12.10.2006 US
Titre (EN) TESTER AND CONTROL METHOD
(FR) TESTEUR ET PROCÉDÉ DE COMMANDE
(JA) 試験装置および制御方法
Abrégé : front page image
(EN)A tester for testing a device under test comprises a control processor for executing a test program to test the device under test, a test unit connected to the device and adapted to test the device according to an instruction of the control processor, and relay modules connected to the control processor and test unit and adapted to relaying a control instruction from the control processor to the test unit. Each relay module has a buffer section for buffering a control instruction to be written at the address allocated to the unit under test by the control processor, a timing storage section storing the timing at which a control instruction received from the control processor is transmitted to the unit under test, and a buffer control section for transmitting a control instruction buffered in the buffer section to the unit under test at the timing stored in the timing storage section.
(FR)La présente invention concerne un testeur pour tester un dispositif en cours de test, qui comprend un processeur de commandes afin d'exécuter un programme de test et tester le dispositif en cours de test, une unité de test raccordée au dispositif et capable de tester le dispositif en fonction d'une instruction du processeur de commande, ainsi que des modules de relais raccordés au processeur de commande et à une unité de test et pouvant relayer une instruction de commande, du processeur de commande à l'unité de test. Chaque module de relais possède une section de tampon pour mettre en tampon une instruction de commande à écrire à l'adresse allouée à l'unité en cours de test par le processeur de commande, une section de stockage de minuterie stockant le moment auquel une instruction de commande reçue du processeur de commande est transmise à l'unité en cours de test, ainsi qu'une section de commande de tampon pour transmettre une instruction de commande mise en tampon dans la section de tampon sur l'unité en cours de test au moment stocké dans la section de stockage de minuterie.
(JA) 被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する試験プログラムを実行する制御プロセッサと、被試験デバイスに接続され、制御プロセッサの指示に応じて被試験デバイスを試験する試験ユニットと、制御プロセッサおよび試験ユニットに接続され、制御プロセッサから試験ユニットへと送信される制御命令を中継する中継部とを備え、中継部は、制御プロセッサから試験ユニットに割り当てられたアドレスに対して書き込まれるべき制御命令をバッファするバッファ部と、制御プロセッサから受信した、制御命令を試験ユニットに対して送信すべきタイミングを記憶するタイミング記憶部と、タイミング記憶部に記憶されたタイミングが到達したことに応じて、バッファ部にバッファされた制御命令を、試験ユニットへ送信するバッファ制御部とを有する試験装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)