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1. (WO2008042009) NANOPÉNÉTRATEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/042009    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/006379
Date de publication : 10.04.2008 Date de dépôt international : 13.03.2007
CIB :
G01B 5/28 (2006.01)
Déposants : ASYLUM RESEARCH CORPORATION [US/US]; 6310 Hollister Avenue, Goleta, CA 93117 (US) (Tous Sauf US).
BONILLA, Flavio, Alejandro [US/US]; (US) (US Seulement).
PROKSCH, Roger [US/US]; (US) (US Seulement).
CLEVELAND, Jason [US/US]; (US) (US Seulement).
SAUTER, Tim [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BONILLA, Flavio, Alejandro; (US).
PROKSCH, Roger; (US).
CLEVELAND, Jason; (US).
SAUTER, Tim; (US)
Mandataire : WILLIAMS, Gary, S.; Morgan Lewis & Bockius LLP, 2 Palo Alto Square, 3000 El Camino Real, Suite 700, Palo Alto, California 94306 (US)
Données relatives à la priorité :
60/782,072 13.03.2006 US
60/782,072 13.03.2006 RU
Titre (EN) NANOINDENTER
(FR) NANOPÉNÉTRATEUR
Abrégé : front page image
(EN)A new type of indenter is described. This device combines certain sensing and structural elements of atomic force microscopy with a module designed for the use of indentation probes, conventional diamond and otherwise, as well as unconventional designs, to produce high resolution and otherwise superior indentation measurements.
(FR)L'invention concerne un nouveau type de pénétrateur. Ce dispositif combine certains éléments de détection et certains éléments structuraux de la microscopie à force atomique avec un module conçu pour l'utilisation de sondes de pénétration, à diamant classique et autres, ainsi que des concepts novateurs, permettant de produire des mesures de pénétration présentant une haute résolution ainsi que d'autres caractéristiques supérieures.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)