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1. (WO2008040744) PROCÉDÉ POUR TESTER UNE UNITÉ ÉLECTRONIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/040744    N° de la demande internationale :    PCT/EP2007/060481
Date de publication : 10.04.2008 Date de dépôt international : 02.10.2007
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : ENDRESS+HAUSER GMBH+CO.KG [DE/DE]; Hauptstrasse 1 79689 Maulburg (DE) (Tous Sauf US).
FRÜHAUF, Dietmar [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
GRITTKE, Udo [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
HUMPERT, Axel [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
SCHÄUBLE, Harald [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : FRÜHAUF, Dietmar; (DE).
GRITTKE, Udo; (DE).
HUMPERT, Axel; (DE).
SCHÄUBLE, Harald; (DE)
Mandataire : ANDRES, Angelika; c/o Endress+Hauser (Deutschland) Holding GmbH PatServe Colmarer Strasse 6 79576 Weil am Rhein (DE)
Données relatives à la priorité :
102006047262.4 04.10.2006 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUM TESTEN EINER ELEKTRONIKEINHEIT
(EN) METHOD FOR TESTING AN ELECTRONIC UNIT
(FR) PROCÉDÉ POUR TESTER UNE UNITÉ ÉLECTRONIQUE
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Testen einer Elektronikeinheit (2), insbesondere einer Elektronikeinheit (2) einer Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße, wobei die Elektronikeinheit (2) eine Vielzahl von elektrischen Bauteilen aufweist. Die Erfindung beinhaltet, dass zumindest ein Teil der elektrischen Bauteile in mindestens eine Gruppe (5) zusammengefasst wird, dass die Gruppe (5) mit einem Abfragesignal beaufschlagt wird, dass ein Antwortsignal der Gruppe (5) empfangen wird, und dass das Antwortsignal ausgewertet wird. Weiterhin bezieht sich die Erfindung auf eine Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße.
(EN)The invention relates to a method for testing an electronic unit (2), particularly an electronic unit (2) of a device for determining and/or monitoring a process variable, wherein the electronic unit (2) comprises a plurality of electric components. According to the invention, at least some of the electric components are combined in a group (5), to the group (5) a query signal is transmitted, the response signal from the group (5) is received, and the response signal is evaluated. Furthermore, the invention relates to a device for determining and/or monitoring a process variable.
(FR)L'invention concerne un procédé pour tester une unité électronique (2), en particulier une unité électronique (2) d'un dispositif permettant de déterminer et/ou de surveiller une grandeur de processus, l'unité électronique (2) comportant une pluralité de composants électriques. Selon la présente invention, au moins une partie des éléments électriques est rassemblée en au moins un groupe (5), un signal d'interrogation est envoyé au groupe (5), un signal de réponse du groupe (5) est reçu, et le signal de réponse est interprété. L'invention concerne en outre un dispositif pour déterminer et/ou surveiller une grandeur de processus.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)