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1. (WO2008024124) SONDE ÉQUIPÉE D'UN ANNEAU DE CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/024124    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/044123
Date de publication : 28.02.2008 Date de dépôt international : 14.11.2006
CIB :
G01R 1/073 (2006.01), G01R 1/067 (2006.01), G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : INTERCONNECT DEVICES, INC. [US/US]; 5101 RICHLAND AVENUE, Kansas City, KS 66106 (US) (Tous Sauf US).
HENRY, David, W. [US/US]; (US) (US Seulement).
THURSTON, William, E. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HENRY, David, W.; (US).
THURSTON, William, E.; (US)
Mandataire : KERNELL, James, J.; CHASE LAW FIRM, L.C., 4400 COLLEGE BOULEVARD, SUITE 130, Overland Park, KS 66211 (US)
Données relatives à la priorité :
11/510,313 25.08.2006 US
Titre (EN) PROBE WITH CONTACT RING
(FR) SONDE ÉQUIPÉE D'UN ANNEAU DE CONTACT
Abrégé : front page image
(EN)A spring probe having a barrel, plunger, spring and contact ring is provided in which the contact ring provides electrical contact between the plunger and the barrel. Two or more contact rings may be provided to improve the pointing accuracy of the probe.
(FR)L'invention concerne une sonde à ressort comportant un fût, un plongeur, un ressort et un anneau de contact dans laquelle l'anneau de contact assure un contact électrique entre le plongeur et le fût. Deux anneaux de contact ou plus peuvent être fournis pour améliorer la précision de pointage de la sonde.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)