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1. (WO2008023806) PROCÉDÉ DE CORRECTION DE SENSIBILITÉ ET DISPOSITIF IMAGEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/023806    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/066492
Date de publication : 28.02.2008 Date de dépôt international : 24.08.2007
CIB :
G06T 1/00 (2006.01), H01L 27/146 (2006.01), H04N 1/028 (2006.01), H04N 5/235 (2006.01), H04N 5/359 (2011.01), H04N 5/3745 (2011.01), H04N 5/378 (2011.01)
Déposants : KYOCERA CORPORATION [JP/JP]; 6, Takeda Tobadono-cho, Fushimi-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6128501 (JP) (Tous Sauf US).
NAKATA, Takatoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAKATA, Takatoshi; (JP)
Mandataire : SAIKYO, Keiichiro; Shikishima Building, 2-6, Bingomachi 3-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410051 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-229229 25.08.2006 JP
Titre (EN) SENSITIVITY CORRECTION METHOD AND IMAGING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE CORRECTION DE SENSIBILITÉ ET DISPOSITIF IMAGEUR
(JA) 感度補正方法および撮像装置
Abrégé : front page image
(EN)It is possible to provide a sensitivity correction method and an imaging device which can perform an accurate shading correction with a simple configuration. The imaging device includes a plurality of imaging elements (3), each including: a photo sensor (15) which photoelectrically converts an incident light; a charge accumulation unit (18) which transfers the charge accumulated in the photo sensor (15) so as to temporarily accumulate it; and a charge correction unit (20) which estimates charge leaking into the charge accumulation unit (18). According to the sensitivity correction method, light from an object is received by a plurality of imaging elements (3) and charge is accumulated. Then, the charge accumulated in the photo sensor (15) is transferred to the charge accumulation unit (18). A first charge quantity p1 accumulated is corrected by a second charge quantity p2 which has leaked to the charge correction unit (20) so as to obtain a third charge p3 which is made to be a charge quantity of each imaging element (3). Charge quantities are successively outputted for the plurality of imaging elements (3) so as to remove shading.
(FR)L'invention concerne un procédé de correction de sensibilité et un dispositif imageur capables d'effectuer une correction d'ombrage précise avec une configuration simple. Le dispositif imageur comprend une pluralité d'éléments imageurs (3), chacun comprenant : un capteur optique (15) qui convertit de manière photoélectrique une lumière incidente ; une unité d'accumulation de charge (18) qui transfère la charge accumulée dans le capteur optique (15) de façon à l'accumuler temporairement ; et une unité de correction de charge (20) qui estime une fuite de charge dans l'unité d'accumulation de charge (18). Selon le procédé de correction de sensibilité, la lumière émise par un objet est reçue par une pluralité d'éléments imageurs (3), et une charge est accumulée. Ensuite, la charge accumulée dans le capteur optique (15) est transférée à l'unité d'accumulation de charge (18). Une première quantité de charge p1 accumulée est corrigée par une deuxième quantité de charge p2 qui a fui vers l'unité de correction de charge (20) de façon à obtenir une troisième charge p3, qui doit devenir la quantité de charge de chaque élément imageur (3). Les quantités de charge sont émises les unes après les autres pour la pluralité d'éléments imageurs (3) de façon à supprimer un ombrage.
(JA) 本発明の目的は、簡単な構成で精度のよいシェーディング補正を行なうことができる感度補正方法および撮像装置を提供することである。入射光を光電変換する感光部15と、感光部15に蓄積された電荷を転送して一時的に蓄積する電荷蓄積部18と、電荷蓄積部18に漏れ込む電荷を見積もる電荷補正部20とをそれぞれ備えた複数の撮像素子3を具備し、被写体からの光を複数の撮像素子3で受光して電荷を蓄積した後、感光部15に蓄積された電荷を電荷蓄積部18に転送して蓄積される第1の電荷量pを電荷補正部20に漏れ出した第2の電荷量pで補正した第3の電荷量pを各撮像素子3の電荷量として複数の撮像素子3についての電荷量を順次出力してシェーディングを除去する感度補正方法である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)