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1. (WO2008019027) appareil et procédé de mesure et d'alignement de surface structurelle
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/019027    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/017208
Date de publication : 14.02.2008 Date de dépôt international : 02.08.2007
CIB :
E04F 21/00 (2006.01), E04B 2/82 (2006.01), E04B 9/00 (2006.01), E04G 1/22 (2006.01)
Déposants : MCCAULEY, Kerry [US/US]; (US)
Inventeurs : MCCAULEY, Kerry; (US)
Mandataire : HAMBURG, C., Bruce; Jordan And Hamburg LLP, 122 East 42nd Street, New York, NY 10168 (US)
Données relatives à la priorité :
11/498,664 02.08.2006 US
Titre (EN) STRUCTURAL SURFACE MEASURING AND ALIGNING APPARATUS AND METHOD
(FR) appareil et procédé de mesure et d'alignement de surface structurelle
Abrégé : front page image
(EN)An apparatus (10) and method provide for measurement at various positions over an extent of an uneven structural surface (12), and preparation of spacers (14), cut to appropriate thicknesses based upon such measurements, such that when affixed to the respective measurement locations, outer facing surfaces of the spacers (14) are collectively coplanar A method of aligning a surface (12) includes defining a reference plane in a fixed condition relative to the structural surface (12), and determining a differential distance between the structural surface (12) and the reference plane at various locations along an extend of the particular structural surface (12). Using these measurements, indexed according to location, spacers (14) are cut to a thickness based upon the respective differential distances at corresponding locations, which, when mounted to the structural surface (12) at these recorded locations, results in alignment of outwardly facing surfaces with a common plane. Advantageously, at least a portion of the processes is automated.
(FR)L'invention concerne un appareil et un procédé de mesure en diverses positions sur une portion donnée d'une surface structurelle inégale, et de préparation d'entretoises, découpées à des épaisseurs appropriées sur la base de telles mesures, pour qu'une fois fixées aux emplacements de mesure respectifs, les surfaces faisant face à l'extérieur des entretoises sont collectivement coplanes. L'invention concerne un procédé d'alignement de surface consistant à définir un plan de référence en condition fixe par rapport à la surface structurelle, et à déterminer une distance différentielle entre la surface structurelle et le plan de référence en divers emplacements le long d'une portion de la surface structurelle particulière. Grâce à ces mesures, indexées selon l'emplacement, les entretoises sont découpées à une épaisseur donnée sur la base des distances différentielles respectives en des emplacements correspondants, qui, une fois montées sur la surface structurelle en ces emplacements enregistrés, provoquent l'alignement des surfaces dirigées vers l'extérieur avec un plan commun. Avantageusement, au moins une partie des processus est automatisée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)