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1. (WO2008016066) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE LENTILLE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE LENTILLE ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE LUNETTES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/016066    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/065026
Date de publication : 07.02.2008 Date de dépôt international : 31.07.2007
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01), G02C 7/02 (2006.01)
Déposants : HOYA CORPORATION [JP/JP]; 7-5, Nakaochiai 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1618525 (JP) (Tous Sauf US).
INOGUCHI, Masaaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : INOGUCHI, Masaaki; (JP)
Mandataire : ANIYA, Setuo; 21 TOWA BLDG. 3F 4-6-1, Iidabashi Chiyoda-ku, Tokyo 1020072 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-208813 31.07.2006 JP
Titre (EN) LENS SHAPE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD, METHOD OF PRODUCING EYEGLASS LENS, AND METHOD OF PRODUCING EYEGLASSES
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE LENTILLE, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE LENTILLE ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE LUNETTES
(JA) レンズ形状測定装置及び方法、眼鏡レンズの製造方法、並びに眼鏡の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)A lens shape measurement device for accurately measuring the peripheral edge shape of a lens by a contactless method. The device has a lens holding mechanism for holding a lens from the lens surface side by a holding shaft and also has a laser displacement meter for measuring the peripheral edge shape of the lens, the laser meter performing the measurement by applying laser light to the peripheral edge of the lens and receiving the reflected light. The laser displacement meter is placed such that a light application section for applying laser light and a light receiving section for receiving the laser light are arranged side by side in the direction vertical to the axis of the holding shaft. The lens shape measurement device changes a lens holding position by using the lens holding mechanism without changing the direction of the axis of the holding shaft, applies laser light for each lens holding position to the peripheral edge of the lens by using the laser displacement meter, and measures the peripheral edge shape of the lens.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de mesure de forme de lentille permettant de mesurer précisément la forme de bord périphérique d'une lentille par un procédé sans contact. Le dispositif comprend un mécanisme de retenue de lentille pour maintenir, avec un axe de support, une lentille par son côté de surface et un mécanisme de mesure optique qui mesure la forme de bord périphérique de la lentille, ce dernier effectuant la mesure par application d'une lumière laser au bord périphérique de la lentille et réception de la lumière réfléchie. Le mécanisme de mesure optique est placé de sorte qu'une unité d'application de lumière et une unité de réception de lumière, appliquant et recevant respectivement la lumière laser, sont disposées côte à côte dans la direction verticale à l'axe de support. Le dispositif de mesure de forme de lentille modifie une position de maintien à l'aide du mécanisme de retenue de lentille sans changer la direction de l'axe de support, applique une lumière laser pour chaque position au bord périphérique de la lentille à l'aide du mécanisme de mesure optique et mesure la forme de bord périphérique de la lentille.
(JA) レンズの周縁形状を非接触方式で正確に測定するために、レンズの周縁形状を測定するレンズ形状測定装置は、レンズを保持軸によりレンズ面側から保持するレンズ保持機構部と、レンズの周縁にレーザ光を照射してその反射光を受光することによりレンズ周縁形状を測定するレーザ変位計とを備え、前記レーザ変位計はレーザ光を投光する投光部とレーザ光を受光する受光部が前記保持軸の軸線に対して垂直方向に並ぶように設置されており、前記レンズ形状測定装置は、前記レンズ保持機構部により前記保持軸の軸方向を変えずにレンズ保持位置を変化させ、このレンズ保持位置毎に前記レーザ変位計を用いてレンズ周縁にレーザ光を照射し、前記レンズの周縁形状を測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)