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1. WO2008013597 - PROCÉDÉ INTÉGRÉ POUR ANALYSER DES CRISTAUX DANS DES DÉPÔTS

Numéro de publication WO/2008/013597
Date de publication 31.01.2008
N° de la demande internationale PCT/US2007/012471
Date du dépôt international 24.05.2007
CIB
G21C 19/42 2006.01
GPHYSIQUE
21PHYSIQUE NUCLÉAIRE; TECHNIQUE NUCLÉAIRE
CRÉACTEURS NUCLÉAIRES
19Dispositions pour le traitement, pour la manipulation, ou pour faciliter la manipulation, du combustible ou d'autres matériaux utilisés à l'intérieur du réacteur, p.ex. à l'intérieur de l'enceinte sous pression
42Retraitement des combustibles irradiés
CPC
G01N 2223/079
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2223Investigating materials by wave or particle radiation
07secondary emission
079incident electron beam and measuring excited X-rays
G01N 23/2251
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
225using electron or ion
2251using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
G01N 23/2252
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
23Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
22by measuring secondary emission from the material
225using electron or ion
2251using incident electron beams, e.g. scanning electron microscopy [SEM]
2252Measuring emitted X-rays, e.g. electron probe microanalysis [EPMA]
G21C 17/017
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
CNUCLEAR REACTORS
17Monitoring; Testing
017Inspection or maintenance of pipe-lines or tubes in nuclear installations
G21C 17/0225
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
CNUCLEAR REACTORS
17Monitoring; Testing
02Devices or arrangements for monitoring coolant or moderator
022for monitoring liquid coolants or moderators
0225Chemical surface treatment, e.g. corrosion
G21F 9/004
GPHYSICS
21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
FPROTECTION AGAINST X-RADIATION, GAMMA RADIATION, CORPUSCULAR RADIATION OR PARTICLE BOMBARDMENT; TREATING RADIOACTIVELY CONTAMINATED MATERIAL; DECONTAMINATION ARRANGEMENTS THEREFOR
9Treating radioactively contaminated material; Decontamination arrangements therefor
001Decontamination of contaminated objects, apparatus, clothes, food; Preventing contamination thereof
002Decontamination of the surface of objects with chemical or electrochemical processes
004of metallic surfaces
Déposants
  • AREVA NP INC. [US]/[US] (AllExceptUS)
  • POP, Mihai, G., M. [US]/[US] (UsOnly)
  • LOCKAMON, Brian, Glenn [US]/[US] (UsOnly)
  • OLESHKO, Vladimir [RU]/[US] (UsOnly)
  • HOWE, James [US]/[US] (UsOnly)
Inventeurs
  • POP, Mihai, G., M.
  • LOCKAMON, Brian, Glenn
  • OLESHKO, Vladimir
  • HOWE, James
Mandataires
  • GODLEWSKI, Kevin, T.
Données relatives à la priorité
11/490,95221.07.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) INTEGRATED METHOD TO ANALYZE CRYSTALS IN DEPOSITS
(FR) PROCÉDÉ INTÉGRÉ POUR ANALYSER DES CRISTAUX DANS DES DÉPÔTS
Abrégé
(EN)
A method to analyze crystals in a deposit on a surface of a nuclear generating station heating surface, wherein the method extracts a sample of material from the surface of the nuclear generating station heating surface and also includes conducting at least one of a high resolution scanning electron microscope/energy dispersive X-ray spectrometry of the sample and a scanning transmission electron microscope/selected area electron diffraction/spot and elemental mapping analysis of the sample.
(FR)
La présente invention concerne un procédé pour analyser des cristaux dans un dépôt sur la face d'une surface chauffante de station de génération nucléaire, ledit procédé comprenant l'extraction d'un échantillon de matériau de la face de la station de génération nucléaire et également l'exécution soit d'un balayage haute résolution par microscope électronique/spectrométrie de dispersion d'énergie en rayon X de l'échantillon ou un balayage de microscope électronique de transmission/de diffraction électronique/d'analyse de mappage élémentaire par points de zone sélectionnée de l'échantillon.
Également publié en tant que
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