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1. (WO2008013224) SYSTÈME DE MESURE DE BIOCAPTEUR ET PROCÉDÉ DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/013224    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/064665
Date de publication : 31.01.2008 Date de dépôt international : 26.07.2007
CIB :
G01N 27/26 (2006.01), G01N 27/327 (2006.01), G01N 27/416 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
ITOH, Yoshihiro; (US Seulement).
YAMANISHI, Eriko; (US Seulement).
TAKAHASHI, Tsuyoshi; (US Seulement).
TOKUNAGA, Hiroyuki; (US Seulement)
Inventeurs : ITOH, Yoshihiro; .
YAMANISHI, Eriko; .
TAKAHASHI, Tsuyoshi; .
TOKUNAGA, Hiroyuki;
Mandataire : HAYASE, Kenichi; HAYASE & CO. Patent Attorneys, 4F, The Sumitomo Building No.2, 4-7-28, Kitahama, Chuo-ku, Osaka-shi,Osaka 5410041 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-203833 26.07.2006 JP
Titre (EN) BIOSENSOR MEASURING SYSTEM, AND MEASURING METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE BIOCAPTEUR ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) バイオセンサ測定システム、および測定方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a biosensor measuring system capable of outputting a highly precise measurement result even either in the case of an impact such as a fall of a sensor or for an exposure sensor. The biosensor measuring system is enabled, by having an abnormal wave detecting electrode separately of a target substance determining electrode, to detect an impact, if any, due to the fall of the sensor even for a resting period having no voltage application in a voltage application algorithm. Moreover, the exposure sensor can also be detected with the abnormal waveform detected by the abnormal waveform detecting electrode.
(FR)La présente invention concerne un système de mesure de biocapteur capable de donner un résultat de mesure extrêmement précis, même en cas d'impact tel qu'une chute d'un capteur ou pour un capteur d'exposition. Le système de mesure de biocapteur est en mesure, du fait de l'installation séparée d'une électrode de détection d'onde anormale et d'une électrode d'identification d'une substance cible, de détecter un impact, le cas échéant, dû à la chute du capteur même pendant une période de repos pendant laquelle aucune tension n'est appliquée dans un algorithme d'application de tension. En outre, le capteur d'exposition peut être également détecté avec une forme d'onde anormale par l'électrode de détection de forme d'onde anormale.
(JA) センサの落下等の衝撃があった場合にも、あるいは、暴露センサについても、精度の高い測定結果を出力することのできるバイオセンサ測定システムを提供する。  目的物質定量用の電極とは別に、異常波形検出電極を、設けたことにより、電圧印加アルゴリズムにおいて電圧印加がなされない休止期間においても、センサの落下等による衝撃があった場合には、これを検出することができる。また、暴露センサをも、上記異常波形検出電極により検出した異常波形より検出することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)