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1. (WO2008011865) PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE PAROI
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/011865    N° de la demande internationale :    PCT/DE2007/001279
Date de publication : 31.01.2008 Date de dépôt international : 18.07.2007
CIB :
G01B 15/02 (2006.01)
Déposants : HOCHSCHULE MAGDEBURG-STENDAL (FH) [DE/DE]; Breitscheidstrasse 2, 39114 Magdeburg (DE) (Tous Sauf US).
ESA PATENTVERWERTUNGSAGENTUR SACHSEN-ANHALT GMBH [DE/DE]; Breitscheidstrasse 51, 39114 Magdeburg (DE) (Tous Sauf US).
HINKEN, Johann [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
BELLER, Thomas [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : HINKEN, Johann; (DE).
BELLER, Thomas; (DE)
Mandataire : FISCHER, Volker; Sperling, Fischer & Heyner, Bruno-Wille-Strasse 9, 39108 Magdeburg (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2006 034 458.8 26.07.2006 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR WANDSTÄRKENMESSUNG
(EN) METHOD FOR MEASURING THE WALL THICKNESS
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE D'ÉPAISSEUR DE PAROI
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Wandstärkenmessung. Sie kann angewendet werden bei der Wandstärkenmessung von Gegenständen aus Isolatorwerkstoffen, wie Flach- und Rundglas, Keramik, Kunststoffen, glasfaserverstärkten Kunststoffen und naturfaserverstärkten Kunststoffen. Bei dem Verfahren zur Wandstärkenmessung isolierender Materialien werden elektromagnetische Wellen hoher Freqenz auf die bezüglich ihrer Dicke zu messende Wand gestrahlt und die von der angestrahlten Wand reflektierte Strahlung empfangen, sodann aus dem gesendeten und dem reflektierten Signal ein komplexer Reflexionsfaktor errechnet. Der ermittelte komplexe Reflexionsfaktor wird hinsichtlich seines Real- und Imaginärteils oder hinsichtlich seines Betrages und seiner Phase in eine komplexe Kalibrierkurvenschar eingeordnet, wobei sich aus dem Ort des komplexen Reflexionsfaktors innerhalb der komplexen Kalibrierkurvenschar die zu messende Wandstärke ergibt. Die komplexe Kalibrierkurvenschar wird aus den ermittelten komplexen Reflexionsfaktoren von Kalibriermessungen realer Wandstärken bei unterschiedlichen Lift-off-Werten ermittelt.
(EN)The invention relates to a method for measuring the wall thickness. It can be applied to measuring the wall thickness of objects made of insulating materials, such as flat glass and round glass, ceramics, plastics, glass-fibre reinforced plastics and natural-fibre reinforced plastics. The method for measuring the wall thickness of insulating materials has the wall which is to be measured with regards to its thickness being irradiated by high frequency electromagnetic waves and the radiation reflected by the irradiated wall being received, so that a complex reflection factor can then be calculated from the emitted and reflected signal. The determined complex reflection factor is classified according to its real and imaginary part or according to its absolute value and phase within a complex calibrating curve family, the wall thickness to be measured being obtained from the location of the complex reflection factor within the complex calibrating curve family. The complex calibrating curve family is determined from the determined complex reflection factors of calibrating measurements of real wall thicknesses with different lift-off values.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure d'épaisseur de paroi. Elle peut être appliquée à la mesure de l'épaisseur des parois d'objets en matières isolantes comme le verre plat ou arrondi, la céramique, les plastiques, les plastiques renforcés de fibre de verre et les plastiques renforcés de fibres naturelles. Dans ce procédé de mesure d'épaisseur de paroi de matériaux isolants, des ondes électromagnétiques à haute fréquence sont émises sur la paroi dont l'épaisseur doit être mesurée et le rayonnement réfléchi par la paroi en question est reçu afin de calculer un facteur de réflexion complexe à partir du signal émis et réfléchi. Le facteur de réflexion complexe calculé est classé en fonction de ses parties réelle et imaginaire ou en fonction de sa somme et de sa phase dans une famille de courbes de calibrage complexe. L'épaisseur de paroi à mesurer est obtenue à partir de la position du facteur de réflexion complexe dans la famille de courbes de calibrage complexe. La famille de courbes de calibrage complexe est calculée à partir des facteurs de réflexion complexes calculés de mesures de calibrage d'épaisseurs de parois réelles dans des valeurs témoins différentes.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)