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1. (WO2008011728) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION ET D'ANALYSE DE RELATIONS ENTRE MOTIFS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/011728    N° de la demande internationale :    PCT/CA2007/001342
Date de publication : 31.01.2008 Date de dépôt international : 30.07.2007
CIB :
G06F 17/00 (2006.01), G06F 17/30 (2006.01)
Déposants : PATTERN INTELLIGENCE INC. [CA/CA]; 95 McCarron Crescent, Waterllo, Ontario N2L 5M9 (CA) (Tous Sauf US).
WONG, Andrew Ka-Ching [CA/CA]; (CA) (US Seulement).
LI, Chung Lam [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : WONG, Andrew Ka-Ching; (CA).
LI, Chung Lam; (CA)
Mandataire : TISDALL, Grant; Gowling Lafleur Henderson LLP, Suite 1600, 1 First Canadian Place, 100 King Street West, Toronto, Ontario M5X 1G5 (CA)
Données relatives à la priorité :
60/833,780 28.07.2006 US
60/862,087 19.10.2006 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING AND ANALYZING PATTERN RELATIONSHIPS
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION ET D'ANALYSE DE RELATIONS ENTRE MOTIFS
Abrégé : front page image
(EN)In its broad aspect, the invention provides a method for analyzing relationships among patterns within a data set having a set of samples and associated attribute values defining each attribute of each said sample. The method comprises receiving at an input at least two patterns; defining a data cluster within the data set for each of said at least two patterns, each defined data cluster having samples with attribute values associated with a corresponding pattern of said at least two patterns; grouping at least some of the samples of each defined data cluster with one another to generate a resultant data cluster; and calculating a variation between the attribute values of a first set of samples and the attribute values of a second set of samples within said resultant data cluster, the attribute values of the first set of samples and the second set of samples corresponding to the same attribute.
(FR)De manière générale, l'invention concerne un procédé d'analyse des relations entre motifs dans un ensemble de données présentant un ensemble d'échantillons et des valeurs d'attributs associées définissant chaque attribut desdits échantillons. Le procédé consiste à recevoir au niveau d'une entrée au moins deux motifs; à définir un groupe de données dans l'ensemble de données pour chacun des deux motifs; chaque groupe de données défini présentant des échantillons avec des valeurs d'attributs associées à un motif correspondant des deux motifs; à regrouper au moins certains des échantillons de chaque groupe de données défini les uns avec les autres afin de générer un groupe de données résultant; et à calculer un écart entre les valeurs d'attributs d'un premier ensemble d'échantillons et les valeurs d'attributs d'un second ensemble d'échantillons dans ledit groupe de données résultant, les valeurs d'attributs du premier ensemble d'échantillons et du second ensemble d'échantillons correspondant au même attribut.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)