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1. (WO2008011035) CALIBRAGE LRRM (LINE-REFLECT-REFLECT MATCH)
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/011035    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/016220
Date de publication : 24.01.2008 Date de dépôt international : 17.07.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    10.01.2008    
CIB :
G01D 1/00 (2006.01), G01B 3/22 (2006.01)
Déposants : CASCADE MICROTECH, INC. [US/US]; 2430 NW 206th Avenue, Beaverton, OR 97006 (US) (Tous Sauf US).
HAYDEN, Leonard [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HAYDEN, Leonard; (US)
Mandataire : RUSSELL, Kevin, L.; Chernoff, Vilhauer, McClung & Stenzel, 601 SW Second Avenue, Suite 1600, Portland, OR 97204 (US)
Données relatives à la priorité :
60/831,940 18.07.2006 US
60/851,254 11.10.2006 US
Titre (EN) LINE-REFLECT-REFLECT MATCH CALIBRATION
(FR) CALIBRAGE LRRM (LINE-REFLECT-REFLECT MATCH)
Abrégé : front page image
(EN)A method of compensating a calibration for a vector network analyzer [VNA] includes performing calibrations on at least a pair of por [El. E2 E3.E4] to determine error terms associated with each port [E1.E2.E3 E4] wherein at least one of the error term is based upon selecting the reactacne of the load standard from a set of potential values in a manner such that the reference reactance errors are reduced
(FR)Procédé de compensation du calibrage d'un analyseur de réseau vectoriel, ledit procédé consistant à soumettre à des opérations de calibrage au moins une paire de ports dans le but de déterminer des termes d'erreur associés à chaque port, au moins un des termes d'erreur étant basé sur la sélection de la réactance d'un étalon de charge parmi un ensemble de valeurs possibles dans le but de réduire les erreurs sur la réactance de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)