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1. (WO2008010919) PROCÉDÉS ET APPAREIL POUR UNE EXTENSION DANS LE PLAN DE CONDUCTEURS ÉLECTRIQUES AU-DELÀ DES BORDS D'UN SUBSTRAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/010919    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/015529
Date de publication : 24.01.2008 Date de dépôt international : 07.07.2007
CIB :
G01R 31/02 (2006.01)
Déposants : OCTAVIAN SCIENTIFIC, INC. [US/US]; Suite 40-09, 1900 Sw 4th Avenue, Portland, OR 97201 (US) (Tous Sauf US).
JOHNSON, Morgan, T. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : JOHNSON, Morgan, T.; (US)
Mandataire : WERNER, Raymond, J.; 2056 Nw Aloclek Drive, Suite 314, Hillsboro, OR 97124 (US)
Données relatives à la priorité :
60/819,318 07.07.2006 US
Titre (EN) METHODS AND APPARATUS FOR PLANAR EXTENSION OF ELECTRICAL CONDUCTORS BEYOND THE EDGES OF A SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉS ET APPAREIL POUR UNE EXTENSION DANS LE PLAN DE CONDUCTEURS ÉLECTRIQUES AU-DELÀ DES BORDS D'UN SUBSTRAT
Abrégé : front page image
(EN)Concurrent electrical access to the pads of integrated circuits on a wafer is provided by an edge-extended wafer translator that carries signals from one or more pads on one or more integrated circuits to contact terminals on the inquiry-side of the edge-extended wafer translator, including portions of the inquiry-side that are superjacent the wafer when the wafer and the edge-extended wafer translator are in a removably attached state, and portions of the inquiry side that reside outside a region defined by the intersection of the wafer and the edge-extended wafer translator. In a further aspect of the present invention, access to the pads of integrated circuits on a wafer is additionally provided by contact terminals in a second inquiry area located on the wafer-side of the edge-extended wafer translator in a region thereof bounded by its outer circumference and the circumference of the attached wafer.
(FR)Un accès électrique simultané aux patins de circuits intégrés sur une tranche est fourni par un traducteur à bord d'extension destiné à une tranche qui transporte des signaux provenant d'un ou plusieurs patins sur un ou plusieurs circuits intégrés pour entrer en contact avec des bornes sur le côté testeur du traducteur à bord d'extension destiné à une tranche, comprenant des parties du côté testeur qui sont surjacentes à la tranche lorsque la tranche et le traducteur à bord d'extension destiné à une tranche sont dans un état lié de manière amovible, et des parties sur le côté testeur qui résident à l'extérieur d'une région définie par l'intersection de la tranche et du traducteur à bord d'extension destiné à une tranche. Dans un autre aspect de la présente invention, un accès aux patins de circuits intégrés sur une tranche est fourni de manière additionnelle par des bornes de contact dans une seconde zone de testeur située sur le côté tranche du traducteur à bord d'extension destiné à une tranche dans une région de celui-ci limitée par sa périphérie externe et la périphérie de la tranche liée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)