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1. (WO2008008731) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DESTINÉS À UNE ANALYSE DE FRONT D'ONDE SUR DES PUPILLES CIRCULAIRES OU NON CIRCULAIRES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/008731    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/073075
Date de publication : 17.01.2008 Date de dépôt international : 09.07.2007
CIB :
A61B 3/103 (2006.01)
Déposants : AMO MANUFACTURING USA, LLC [US/US]; 1700 East St. Andrew Place, Santa Ana, CA 92705 (US) (Tous Sauf US).
DAI, Guang-Ming [CN/US]; (US) (US Seulement).
MAHAJAN, Virenda, N. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : DAI, Guang-Ming; (US).
MAHAJAN, Virenda, N.; (US)
Mandataire : CASSELL, Nathan; Townsend and Townsend and Crew LLP, 1200 17th Street, Suite 2700, Denver, CO 80202 (US)
Données relatives à la priorité :
60/819,587 10.07.2006 US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR WAVEFRONT ANALYSIS OVER CIRCULAR AND NONCIRCULAR PUPILS
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DESTINÉS À UNE ANALYSE DE FRONT D'ONDE SUR DES PUPILLES CIRCULAIRES OU NON CIRCULAIRES
Abrégé : front page image
(EN)Systems, methods, and software for determining a set of analytical or numerical polynomials that is orthonormal over circular or noncircular pupils are described. Closed-form orthonormal polynomials for circular, annular, hexagonal, elliptical, rectangular, and square pupils are derived. Such techniques can be applied to ray tracing as in the optical design and wavefront fitting from measurement as in the optical testing. These approaches can also be applied to wavefront reconstruction in adaptive optics.
(FR)La présente invention concerne des systèmes, des procédés et un logiciel pour déterminer un ensemble de polynômes analytiques ou numériques qui est orthonormal sur des pupilles circulaires ou non circulaires. On dérive des polynômes orthonormaux de forme fermée destinés à des pupilles circulaires, annulaires, hexagonales, elliptiques, rectangulaires et carrées. De telles techniques peuvent être appliquées au traçage par rayon tout comme dans la conception optique et l'adaptation du front d'onde à partir de mesures comme dans les tests optiques. Ces approches peuvent aussi s'appliquer à la reconstruction d'un front d'onde en optique adaptative.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)