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1. (WO2008008169) SystÈmes et mÉthodes de dÉtection des impuretÉs dans les systÈmes de rÉacteurs
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/008169    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/014708
Date de publication : 17.01.2008 Date de dépôt international : 25.06.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    06.05.2008    
CIB :
B01J 8/24 (2006.01)
Déposants : UNIVATION TECHNOLOGIES, LLC [US/US]; 5555 San Felipe, Suite 1950, Houston, TX 77056-2746 (US) (Tous Sauf US).
MARKEL, Eric, J. [US/US]; (US) (US Seulement).
HAGERTY, Robert, O. [US/US]; (US) (US Seulement).
MUHLE, Michael, E. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : MARKEL, Eric, J.; (US).
HAGERTY, Robert, O.; (US).
MUHLE, Michael, E.; (US)
Mandataire : ARECHEDERRA, Leandro, III; Univation Technologies, LLC, 5555 San Felipe, Suite 1950, Houston, TX 77056-2746 (US)
Données relatives à la priorité :
60/819,326 07.07.2006 US
Titre (EN) USING ELECTRICAL PROBES FOR DETECTING IMPURITIES IN REACTOR SYSTEMS
(FR) SystÈmes et mÉthodes de dÉtection des impuretÉs dans les systÈmes de rÉacteurs
Abrégé : front page image
(EN)The present invention is directed to various methods and systems for detecting at least one impurity in a bulk fluid (10), using at least one electrical probe (40). The methods are performed in conjunction with a polymerization reactor system (100) such as a gas-phase reactor system.
(FR)La présente invention concerne diverses méthodes et systèmes de détection d'au moins une impureté dans un fluide de substrat. Dans certains modes d'application, les méthodes sont mises en œuvre en conjonction avec un système de réacteur de polymérisation, tel qu'un système de réacteur en phase gazeuse.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)