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1. (WO2008007725) ANALYSEUR ET SON UTILISATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/007725    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/063878
Date de publication : 17.01.2008 Date de dépôt international : 12.07.2007
CIB :
G01N 21/17 (2006.01), G01N 21/27 (2006.01), G01N 33/48 (2006.01), G02B 7/28 (2006.01)
Déposants : TOYO BOSEKI KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 2-8, Dojimahama 2-Chome, Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5308230 (JP) (Tous Sauf US).
OKUDA, Yohei; (US Seulement).
YONEDA, Keizo; (US Seulement)
Inventeurs : OKUDA, Yohei; .
YONEDA, Keizo;
Mandataire : HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK; Daiwa Minamimorimachi Building, 2-6, Tenjinbashi 2-chome Kita, Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300041 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-191807 12.07.2006 JP
Titre (EN) ANALYZER AND USE THEREOF
(FR) ANALYSEUR ET SON UTILISATION
(JA) 分析装置及びその利用
Abrégé : front page image
(EN)This invention provides an analyzer which can judges a sample in a preparation for the presence or absence of a tangible component in the sample and, when the tangible component is present, can analyze the tangible component in an efficient and high accuracy manner. The analyzer is an analyzer (100) for analyzing the tangible component in a sample (23) held in a preparation (20). In the analyzer (100), in one visual field, an area where the tangigle component as a target appears to be present is extensively observed to confirm whether the tangible component is present or absent. When the tangible component has been found to exist, the tangible component is analyzed. Thereafter, another visual field is moved to start another analysis. In this case, only the area adjacent to the area where the tangible component exits is analyzed. This analyzer (100) can determine the presence or absence of the tangible component, and, at the same time, can analyze a tangible component with high efficiency and high accuracy.
(FR)L'invention concerne un analyseur qui permet de déterminer dans un échantillon d'une préparation la présence ou l'absence d'un composant sensible dans l'échantillon et, lorsque le composant sensible est présent, permet d'analyser le composant sensible de manière efficace et avec haute précision. L'analyseur analyse (100) le composant sensible dans un échantillon (23) maintenu dans une préparation (20). Dans l'analyseur (100), dans un champ visuel, une zone dans laquelle le composant sensible cible semble être présent est observée attentivement afin de confirmer la présence ou l'absence du composant sensible. Lorsque la présence du composant sensible a été confirmée, celui-ci est analysé. Par la suite, un autre champ visuel est déplacé pour démarrer une autre analyse. Dans ce cas, seule la zone adjacente à la zone où le composant sensible existe est analysée. Cet analyseur (100) permet de déterminer la présence ou l'absence du composant sensible et, par la même occasion, d'analyser un élément sensible avec grande efficacité et haute précision.
(JA) プレパラート中の試料について、有形成分の有無を判定するとともに、有形成分が存在する場合は、当該有形成分について効率的かつ高精度で分析するために、本発明に係る分析装置は、プレパラート(20)に保持された試料(23)の有形成分を分析する分析装置(100)において、1つの視野において分析対象の有形成分が存在すると思われる領域を広範囲に観察して有形成分の有無を確認した後、有形成分が存在する場合は、その有形成分を分析する。さらに異なる視野へ移動し、新たな分析を開始する。その際、上記有形成分が存在した領域近傍のみを分析する。このような分析装置(100)によれば、有形成分の有無を判定でき、かつ当該有形成分について効率的かつ高精度で分析できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)