WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2008007580) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE PARTICULES FINES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/007580    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/063297
Date de publication : 17.01.2008 Date de dépôt international : 03.07.2007
CIB :
G01N 15/14 (2006.01), G01N 21/64 (2006.01), G02B 21/06 (2006.01)
Déposants : OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP) (Tous Sauf US).
KOBAYASHI, Tamiyo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KUSANO, Masayoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUKUOKA, Morinao [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KOBAYASHI, Tamiyo; (JP).
KUSANO, Masayoshi; (JP).
FUKUOKA, Morinao; (JP)
Mandataire : TANAI, Sumio; 2-3-1, Yaesu Chuo-ku, Tokyo 104-8453 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-192742 13.07.2006 JP
Titre (EN) METHOD FOR ANALYZING FINE PARTICLES
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE PARTICULES FINES
(JA) 微粒子の解析方法
Abrégé : front page image
(EN)In a method for analyzing fine particles, signal strength in a fine region in a confocal region is measured by scanning the fine region and analyzing the sizes of the fine particles or existence of particle bonding or particle divergence. The volume of one fine region among a plurality of fine regions of which the signal strengths are to be measured is 1FL or less, and a total area of scanning region flat surfaces of the fine regions is 500&mgr;m2-40,000&mgr;m2.
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse de particules fines, dans lequel une intensité de signal dans une région fine d'une région à foyer commun est mesurée par balayage de la région fine et analyse des dimensions des particules fines ou de l'existence de liaison de particules ou de divergence de particules. Le volume d'une région fine parmi une pluralité de régions fines dont les intensités de signal doivent être mesurées est 1FL ou moins, et une aire totale des surfaces planes de régions de balayage des régions fines est de 500 &mgr;m2-40.000 &mgr;m2.
(JA) 共焦点領域内の微少領域を走査して微少領域の信号強度を測定し、微粒子の大きさ、あるいは微粒子の結合または乖離の有無を解析する微粒子の解析方法であって、信号強度を測定する複数の微少領域のうち一つの微少領域の容積が1FL以下であり、前記複数の微少領域の走査領域平面の面積合計値が、500μm~40000μmである微粒子の解析方法である。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)