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1. (WO2008007363) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE MARQUES DE SONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/007363    N° de la demande internationale :    PCT/IL2007/000859
Date de publication : 17.01.2008 Date de dépôt international : 10.07.2007
CIB :
G01B 11/00 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01)
Déposants : BEN-LEVI, Meir [IL/IL]; (IL) (US Seulement).
CAMTEK LTD [IL/IL]; Ramat Gabriel Industrial Park, P.o.b 544, 23150 Migdal-haemek (IL) (Tous Sauf US).
GRIMBERG, Ilana [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : BEN-LEVI, Meir; (IL).
GRIMBERG, Ilana; (IL)
Mandataire : RECHES, Oren; P.O.B. 2213, 17 Hatidhar St., Beit Hatamar, 1st floor, 43665 Raanana (IL)
Données relatives à la priorité :
60/806,974 11.07.2006 US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR PROBE MARK ANALYSIS
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DE MARQUES DE SONDE
Abrégé : front page image
(EN)A method for analyzing probe mark, the method includes: scanning the probe mark by multiple spots; evaluating a probe mark characteristic in response to detection signals generated by multiple sensors of the chromatic confocal system that is characterized by a sub-micron axial resolution.
(FR)Procédé d'analyse de marques de sonde consistant: à balayer la marque de sonde par des points multiples; à évaluer une caractéristique de marque de sonde en réponse à des signaux de détection générés par les capteurs multiples d'un système confocal chromatique caractérisé par une résolution axiale submicronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)