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1. (WO2008005947) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION D'ASSEMBLAGE/D'EFFRACTION D'IMAGE EN UTILISANT DES FONCTIONS CARACTÉRISTIQUES D'ONDELETTES ET STATISTIQUES DE RÉSEAUX DE CONGRUENCE DE PHASE EN 2D
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/005947    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/072686
Date de publication : 10.01.2008 Date de dépôt international : 02.07.2007
CIB :
G06K 9/52 (2006.01)
Déposants : NEW JERSEY INSTITUTE OF TECHNOLOGY [US/US]; 323 Dr. Martin Luther King Jr. Blvd., University Heights, Newark, NJ 07102-1982 (US) (Tous Sauf US).
SHI, Yun-Qing [US/US]; (US) (US Seulement).
CHEN, Wen [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SHI, Yun-Qing; (US).
CHEN, Wen; (US)
Mandataire : WYCHE, Myron, Keith; Connolly Bove Lodge & Hutz LLP, 1875 Eye Street, NW, Suite 1100, Washington, DC 20006 (US)
Données relatives à la priorité :
60/806,277 30.06.2006 US
Titre (EN) A METHOD AND APPARATUS FOR IMAGE SPLICING/TAMPERING DETECTION USING MOMENTS OF WAVELET CHARACTERISTIC FUNCTIONS AND STATISTICS OF 2-D PHASE CONGRUENCY ARRAYS
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL DE DÉTECTION D'ASSEMBLAGE/D'EFFRACTION D'IMAGE EN UTILISANT DES FONCTIONS CARACTÉRISTIQUES D'ONDELETTES ET STATISTIQUES DE RÉSEAUX DE CONGRUENCE DE PHASE EN 2D
Abrégé : front page image
(EN)Embodiments of the invention are a novel splicing detection scheme that detects the spliced images by distinguishing image features that are extracted by exploiting both magnitude and phase information of a given image. The image features include the statistical moments of characteristic functions of wavelet subbands of a test image and a prediction-error image. In addition, the approximation (LL) subband at different levels is individually erased by forcing the wavelet coefficients to zero and the inverse wavelet transform is applied in order to produce reconstructed image with enhanced high frequency components. Further, the moments of the characteristic functions of these reconstructed images provide additional image features. Moreover, the statistics (mean, variance, skewness and kurtosis) of 2-D phase congruency array associated with the reconstructed images provide additional image features for splicing detection. These inputs provide a 120 dimensional image feature vector that includes 96 moment features and 24 phase features.
(FR)Des modes de réalisation de l'invention concernent un nouveau schéma de détection d'assemblage qui détecte les images assemblées par la distinction des caractéristiques d'image qui sont extraites en exploitant à la fois les informations de magnitude et de phase d'une image donnée. Les caractéristiques d'image comportent les moments statistiques des fonctions caractéristiques de sous-bandes à ondelettes d'une image de test et une image d'erreur de prédiction. En outre, la bande auxiliaire d'approximation (LL) à différents niveaux est effacée individuellement en ramenant de force les coefficients d'ondelettes à zéro et l'on applique la transformée en ondelettes inverse pour obtenir une image reconstituée avec des composants haute fréquence améliorés. De plus, les moments des fonctions caractéristiques de ces images reconstituées fournissent des caractéristiques d'image supplémentaires. De plus, les statistiques (moyenne, variance, dissymétrie et kurtosis) de réseau de congruence de phase en 2D associée aux images reconstituées fournissent des caractéristiques d'image supplémentaires pour la détection d'assemblage. Ces entrées fournissent un vecteur caractéristique d'image en 120 dimensions comprenant 96 caractéristiques de moment et 24 caractéristiques de phase.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)