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1. (WO2008005301) PIXEL ANALOGIQUE ET NUMÉRIQUE MÉLANGÉ POUR LECTURE À PLAGE DYNAMIQUE ÉLEVÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/005301    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/015069
Date de publication : 10.01.2008 Date de dépôt international : 28.06.2007
CIB :
H04N 5/353 (2011.01), H04N 5/355 (2011.01), H04N 5/374 (2011.01), H04N 5/378 (2011.01)
Déposants : NOBLE PEAK VISION CORP. [US/US]; 585 Edgewater Drive, Wakefield, MA 01880 (US) (Tous Sauf US).
ACKLAND, Bryan, D. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ACKLAND, Bryan, D.; (US)
Mandataire : GIUNTA, Richard, F.; Wolf, Greenfield & Sacks, P.C., 600 Atlantic Avenue, Boston, MA 02210 (US)
Données relatives à la priorité :
11/427,483 29.06.2006 US
Titre (EN) MIXED ANALOG AND DIGITAL PIXEL FOR HIGH DYNAMIC RANGE READOUT
(FR) PIXEL ANALOGIQUE ET NUMÉRIQUE MÉLANGÉ POUR LECTURE À PLAGE DYNAMIQUE ÉLEVÉE
Abrégé : front page image
(EN)An improved CMOS pixel with a combination of analog and digital readouts to provide a large pixel dynamic range without compromising low-light performance using a comparator to test the value of an accumulated charge at a series of exponentially increasing exposure times. The test is used to stop the integration of photocurrent once the accumulated analog voltage has reached a predetermined threshold. A one-bit output value of the test is read out of the pixel (digitally) at each of the exponentially increasing exposure periods. At the end of the integration period, the analog value stored on the integration capacitor is read out using conventional CMOS active pixel readout circuits.
(FR)L'invention concerne un pixel CMOS amélioré avec une combinaison de lectures analogiques et numériques permettant d'obtenir une plage dynamique de pixel importante sans compromettre les performances à bas niveau de lumière. Ledit pixel utilise un comparateur pour tester la valeur d'une charge accumulée à une série de temps d'exposition augmentant de façon exponentielle. Le test est utilisé pour arrêter l'intégration de photocourant une fois que la tension analogique accumulée a atteint un seuil prédéterminé. Une valeur de sortie à un bit est lue à partir du pixel (numériquement) à chacune des périodes d'exposition augmentant de façon exponentielle. A la fin de la période d'intégration, la valeur analogique stockée sur le condensateur d'intégration est lue à l'aide de circuits de lecture de pixel actif CMOS classique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)