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1. (WO2008004209) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'ESSAI DE SEMI-CONDUCTEURS AU MOYEN DE DÉS DE RÉFÉRENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/004209    N° de la demande internationale :    PCT/IL2007/000758
Date de publication : 10.01.2008 Date de dépôt international : 21.06.2007
CIB :
G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : OPTIMALTEST LTD. [IL/IL]; 18 Einstein St, 74140 Nes-Zionna (IL) (Tous Sauf US).
BALOG, Gil [IL/IL]; (IL) (US Seulement)
Inventeurs : BALOG, Gil; (IL)
Mandataire : REINHOLD COHN AND PARTNERS; P.o.b. 4060, 61040 Tel-Aviv (IL)
Données relatives à la priorité :
11/480,452 05.07.2006 US
Titre (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR SEMICONDUCTOR TESTING USING REFERENCE DICE
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES D'ESSAI DE SEMI-CONDUCTEURS AU MOYEN DE DÉS DE RÉFÉRENCE
Abrégé : front page image
(EN)Methods and systems of semiconductor testing where reference dice and non-reference dice in a wafer and/or lot are tested differently. In one embodiment of the invention, geography, lithography exposure, other characteristics, performance and/or behavior are taken into account when selecting reference dice, thereby improving the likelihood that the response of reference dice to testing is well representative of the wafer and/or lot. In one embodiment, based on data from the testing of reference dice, the test flow for non-reference dice and/or other testing may or may not be adjusted.
(FR)Procédés et systèmes d'essai de semi-conducteurs selon lesquels des dés de référence et des dés de non-références pris dans une tranche et/ou un lot sont testés de manière différente. Dans un mode de réalisation, la géographie, l'exposition lithographique et autres caractéristiques ainsi que les performances et/ou le comportement sont pris en compte lors de la sélection des dés de référence afin de mieux garantir que la réponse desdits dés aux essais est bien représentative de la tranche et/ou du lot. Dans un mode de réalisation, le déroulement des essais pour les dés de non-référence et/ou d'autres tests peuvent être ajustés en fonction des données recueillies pour les essais menés avec les dés de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)