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1. (WO2008002779) TESTEUR DE CIRCUIT ET DE CONTINUITÉ SOUPLE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/002779    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/071340
Date de publication : 03.01.2008 Date de dépôt international : 15.06.2007
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), G01R 31/44 (2006.01)
Déposants : JACQUES, James [US/US]; (US)
Inventeurs : JACQUES, James; (US)
Mandataire : BARLOW, Timothy, M.; Cmr 480 Box 0007 Apo Ae, 09128 (US)
Données relatives à la priorité :
60/816,913 27.06.2006 US
Titre (EN) FLEXIBLE CONTINUITY AND CIRCUIT TESTER
(FR) TESTEUR DE CIRCUIT ET DE CONTINUITÉ SOUPLE
Abrégé : front page image
(EN)A flexible circuit and continuity testing device may include a flexible printed circuit substrate. A battery having a positive and negative terminal may be attached to the substrate. An illumination source, e.g., an LED, may be attached to the substrate. The testing device may include a flexible electrical contact array, a small bulb tester, a fuse tester and a system tester. Each of these may be incorporated into the substrate and coplanar with the substrate. The contact array may include a planar coil shape, a semicircular shape, a pair of parallel contacts, a set of converging contacts or other configurations. The device may be about the size and shape of a credit card. The substrate may include a magnet or a pocket clip.
(FR)Cette invention concerne un testeur de continuité de circuits souple pouvant comprendre un substrat de circuit imprimé souple. Une batterie dotée d'une borne positive et d'une borne négative peut être reliée au substrat. Une source d'éclairage, par exemple, une DEL, peut être reliée au substrat. Le testeur peut comprendre une matrice de contacts électriques souple, un petit testeur d'ampoule, un testeur de fusible et un testeur de système. Chacun de ces testeurs peut être incorporé dans le substrat et peut être coplanaire avec le substrat. La matrice de contacts peut comprendre une forme d'enroulement planaire, une forme semicirculaire, une paire de contacts parallèles,un ensemble de contacts convergents ou toutes autres configurations. Le dispositif peut présenter environ la taille et la forme d'une carte de crédit. Le substrat peut comprendre un aimant ou une agrafe de poche.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)