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1. (WO2008001545) APPAREIL DE DÉTECTION D'ERREUR DE DONNÉES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2008/001545    N° de la demande internationale :    PCT/JP2007/059167
Date de publication : 03.01.2008 Date de dépôt international : 27.04.2007
CIB :
H03M 7/40 (2006.01), G11B 20/18 (2006.01), H04L 1/00 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
MUKAI, Masayasu; (US Seulement)
Inventeurs : MUKAI, Masayasu;
Mandataire : HAYASE, Kenichi; HAYASE & CO. Patent Attorneys, 4F, The Sumitomo Building No.2, 4-7-28, Kitahama, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP)
Données relatives à la priorité :
2006-180478 29.06.2006 JP
Titre (EN) DATA ERROR DETECTING APPARATUS
(FR) APPAREIL DE DÉTECTION D'ERREUR DE DONNÉES
(JA) データエラー検出装置
Abrégé : front page image
(EN)A data error detecting apparatus comprises a modulating circuit (11) that modulates data (S101); an error addition position calculating circuit (12) that calculates the position and length of an error to be added to the modulated data (S102) based on error setting information (S105) including information of the position and length of the error externally set; an error adding circuit (13) that adds the error to the modulated data (S102) based on the calculation result of the error addition position calculating circuit (12); and an error detecting circuit (14) that demodulates the modulated data (S103), to which the error has been added, to detect the error of the demodulated data. In this way, an error can be added to data, which has been modulated by the variable length code system, at a random position, and the occurrence of demodulation error can be precisely detected for the data to which the error has been added.
(FR)La présente invention concerne un appareil de détection d'erreur de données qui comprend un circuit de modulation (11) qui module des données (S101), un circuit de calcul de la position d'ajout d'erreur (12) qui calcule la position et la longueur d'une erreur à ajouter aux données modulées (S102) en fonction des informations de paramétrage d'erreur (S105) comprenant des informations sur la position et la longueur de l'erreur, définies en externe, un circuit d'ajout d'erreur (13) qui ajoute l'erreur aux données modulées (S102) en fonction du résultat du calcul du circuit de calcul de la position d'ajout d'erreur (12), ainsi qu'un circuit de détection d'erreur (14) qui démodule les données modulées (S103), sur lesquelles l'erreur a été ajoutée, pour détecter l'erreur des données démodulées. De cette manière, il est possible d'ajouter une erreur aux données, laquelle a été modulée par le système de code de longueur variable, à une position aléatoire, et la survenue de l'erreur de démodulation peut être détectée précisément pour les données auxquelles l'erreur a été ajoutée.
(JA) 本発明のデータエラー検出装置は、データ(S101)を変調する変調回路(11)と、変調回路(11)でデータ(S101)が可変長符号方式で変調されるとき、変調時のデータの拘束長情報(S104)と、外部にて設定されたエラーの位置と長さの情報を含むエラー設定情報(S105)に基づいて、変調データ(S102)に付加されるエラーの位置と長さを計算するエラー付加位置計算回路(12)と、エラー付加位置計算回路(12)の計算結果に基づいて、変調データ(S102)にエラーを付加するエラー付加回路(13)と、エラーが付加された変調データ(S103)を復調して、復調データのエラーを検出するエラー検出回路(14)とを備える。これにより、可変長符号方式によって変調されたデータに対してランダムな位置にエラーを付加して、エラーを付加したデータに対する復調エラーの発生状態を正確に検出できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)