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Paramétrages

Paramétrages

1. WO2007148655 - dispositif de mesure de la texture d'un matériau et méthode de mesure de la texture d'un matériau

Numéro de publication WO/2007/148655
Date de publication 27.12.2007
N° de la demande internationale PCT/JP2007/062242
Date du dépôt international 18.06.2007
CIB
G01N 29/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
CPC
G01N 2291/0423
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
042Wave modes
0423Surface waves, e.g. Rayleigh waves, Love waves
G01N 2291/0426
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
042Wave modes
0426Bulk waves, e.g. quartz crystal microbalance, torsional waves
G01N 2291/0427
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
042Wave modes
0427Flexural waves, plate waves, e.g. Lamb waves, tuning fork, cantilever
G01N 2291/0428
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
2291Indexing codes associated with group G01N29/00
04Wave modes and trajectories
042Wave modes
0428Mode conversion
G01N 29/2418
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
29Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
22Details ; , e.g. general constructional or apparatus details
24Probes
2418using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics
Déposants
  • 東芝三菱電機産業システム株式会社 TOSHIBA MITSUBISHI-ELECTRIC INDUSTRIAL SYSTEMS CORPORATION [JP/JP]; 〒1080073 東京都港区三田三丁目13番16号 Tokyo 13-16 Mita 3-chome, Minato-ku, Tokyo 1080073, JP (AllExceptUS)
  • 小原 一浩 OHARA, Kazuhiro [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 佐野 光彦 SANO, Mitsuhiko [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 今成 宏幸 IMANARI, Hiroyuki [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 告野 昌史 TSUGENO, Masashi [JP/JP]; JP (UsOnly)
  • 北郷 和寿 KITAGOH, Kazutoshi [JP/JP]; JP (UsOnly)
Inventeurs
  • 小原 一浩 OHARA, Kazuhiro; JP
  • 佐野 光彦 SANO, Mitsuhiko; JP
  • 今成 宏幸 IMANARI, Hiroyuki; JP
  • 告野 昌史 TSUGENO, Masashi; JP
  • 北郷 和寿 KITAGOH, Kazutoshi; JP
Mandataires
  • 高田 守 TAKADA, Mamoru; 〒1600007 東京都新宿区荒木町20番地 インテック88ビル5階 特許業務法人 高田・高橋国際特許事務所 Tokyo Takada, Takahashi & Partners 5th Floor, Intec 88 Bldg. 20, Araki-cho, Shinjuku-ku Tokyo 1600007, JP
Données relatives à la priorité
PCT/JP2006/31227120.06.2006JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) TEXTURE MATERIAL MEASURING DEVICE AND TEXTURE MATERIAL MEASURING METHOD
(FR) dispositif de mesure de la texture d'un matériau et méthode de mesure de la texture d'un matériau
(JA) 組織材質測定装置及び組織材質測定方法
Abrégé
(EN)
Nondestructive measurement of crystal grain size is performed surely by removing an oxide film adhering to the surface of a material to be measured. At first, a position on the other side of a rolling product irradiated with a laser beam from an ultrasonic detector is irradiated with a laser beam from a surface removing unit, thus removing an oxide film on the other side of the rolling product. After removing the oxide film on the other side of the rolling product, one side of the rolling product is irradiated with a laser beam from an ultrasonic oscillator to generate ultrasonic oscillation on the other side of the rolling product. The other side of the rolling product is irradiated with a laser beam from the ultrasonic detector and reflecting light from the other side of the rolling product is received by the ultrasonic detector in order to detect ultrasonic oscillation generated on the other side of the rolling product, and crystal grain size of the rolling product is calculated based on the detection results from the ultrasonic detector.
(FR)
L'invention concerne la mesure non destructive de la taille des grains d'un cristal qui est réalisée de façon sûre en enlevant un film d'oxyde qui adhère à la surface d'un matériau qui doit être mesuré. Premièrement, une position située de l'autre côté d'un produit de laminage irradié par un faisceau laser d'un détecteur d'ultrasons est irradiée avec un faisceau laser provenant de l'unité d'enlèvement de la surface et enlève donc un film d'oxyde sur l'autre côté du produit de laminage. Après l'enlèvement du film d'oxyde sur l'autre côté du produit de laminage, un côté du produit de laminage est irradié avec un faisceau laser d'un oscillateur à ultrasons afin de générer une oscillation ultrasonique sur l'autre côté du produit de laminage. L'autre côté du produit de laminage est irradié avec un faisceau laser du détecteur d'ultrasons et la lumière réfléchie par l'autre côté du produit laminé est reçue par le détecteur ultrasonique afin de détecter une oscillation ultrasonique générée sur l'autre côté du produit de laminage, et la granulométrie du produit de laminage est calculée sur base des résultats de détection par le détecteur ultrasonique.
(JA)
 被測定材の表面に付いた酸化皮膜を除去することにより、非破壊での結晶粒径の計測を確実に実施する。このため、測定に際し、先ず、超音波検出器から圧延製品の他側表面に照射されるレーザ光の照射位置に、表面除去装置からレーザ光を照射して、圧延製品の他側表面の酸化皮膜を除去する。圧延製品の他側表面の酸化皮膜を除去した後、超音波発振器から圧延製品の一側表面にレーザ光を照射して、圧延製品の他側表面に超音波振動を発生させる。そして、超音波検出器から圧延製品の他側表面にレーザ光を照射するとともに、圧延製品の他側表面からの反射光を超音波検出器によって受光することにより、圧延製品の他側表面に発生した超音波振動を検出し、超音波検出器による検出結果に基づいて、圧延製品の結晶粒径を算出する。
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