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1. (WO2007147158) Système de détection de défaut par infrarouge et méthode D'éVALUATION Des frittés métalliques
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/147158    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/071451
Date de publication : 21.12.2007 Date de dépôt international : 18.06.2007
CIB :
G06K 9/00 (2006.01)
Déposants : WORCESTER POLYTECHNIC INSTITUTE [US/US]; 100 Institute Road, Worcester, MA 01609 (US) (Tous Sauf US).
BENZERROUK, Souheil [DZ/US]; (US) (US Seulement).
LUDWIG, Reinhold [US/US]; (US) (US Seulement).
APELIAN, Diran [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BENZERROUK, Souheil; (US).
LUDWIG, Reinhold; (US).
APELIAN, Diran; (US)
Mandataire : GRODT, Thomas, P.; Burns & Levinson, LLP, 125 Summer Street, Boston, MA 02110 (US)
Données relatives à la priorité :
60/814,451 16.06.2006 US
Titre (EN) INFRARED DEFECT DETECTION SYSTEM AND METHOD FOR THE EVALUATION OF POWDERMETALLIC COMPACTS
(FR) Système de détection de défaut par infrarouge et méthode D'éVALUATION Des frittés métalliques
Abrégé : front page image
(EN)A pulsed thermography defect detection apparatus including active and passive infrared (IR) thermography for non-destructive testing (NDT) of powdermetallic (P/M) components for on-line and off-line inspection.
(FR)L'invention concerne un appareillage de détection de défaut par thermographie en impulsions comprenant la thermographie active et passive en infrarouges (IR) pour mener des essais non destructifs (NDT) sur des éléments en poudre métallique frittée (P/M) en vue de leur inspection en fabrication et hors fabrication.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)