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Paramétrages

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1. WO2007146291 - PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR EXTENSION MULTI-PLANAIRE DE FORME FIXE DE CONDUCTEURS ÉLECTRIQUES AU-DELÀ DES BORDS D'UN SUBSTRAT

Numéro de publication WO/2007/146291
Date de publication 21.12.2007
N° de la demande internationale PCT/US2007/013788
Date du dépôt international 11.06.2007
CIB
G01R 31/02 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31Dispositions pour tester les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour tests électriques caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
CPC
G01R 31/2851
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
G01R 31/2853
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2853Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections
G01R 31/2855
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2855Environmental, reliability or burn-in testing
G01R 31/2884
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
2851Testing of integrated circuits [IC]
2884using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
Déposants
  • OCTAVIAN SCIENTIFIC, INC. [US/US]; Suite 40-09 1900 Sw 4th Ave. Portland, OR 97201, US (AllExceptUS)
  • JOHNSON, Morgan, T.; US (UsOnly)
Inventeurs
  • JOHNSON, Morgan, T.; US
Mandataires
  • WERNER, Raymond, J.; 2056 Nw Aloclek Dr. Suite 314 Hillsboro, OR 97124, US
Données relatives à la priorité
60/812,15609.06.2006US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) METHOD AND APPARATUS FOR FIXED-FORM MULTI-PLANAR EXTENSION OF ELECTRICAL CONDUCTORS BEYOND THE MARGINS OF A SUBSTRATE
(FR) PROCÉDÉ ET APPAREIL POUR EXTENSION MULTI-PLANAIRE DE FORME FIXE DE CONDUCTEURS ÉLECTRIQUES AU-DELÀ DES BORDS D'UN SUBSTRAT
Abrégé
(EN)
An apparatus, suitable for coupling a pads of integrated circuits on wafer to the pogo pins of a pogo tower in a test system without the need of a probe card, includes a body having a first surface and a second surface, the body having a substantially circular central portion, and a plurality of bendable arms extending outwardly from the central portion, each bendable arm having a connector tab disposed at the distal end thereof; a first plurality of contact terminals disposed on the second surface of the central portion of the body, the first plurality of contact terminals arranged in pattern to match the layout of pads on a wafer to be contacted; at least one contact terminal disposed on the first surface of the plurality of connector tabs; and a plurality of electrically conductive pathways disposed in the body such that each of the first plurality of contact terminals is electrically connected to a corresponding one of the contact terminals on the first surface of the connector tabs.
(FR)
L'invention concerne un appareil permettant de coupler une pastille de circuits intégrés sur une plaquette, à des broches à ressort d'une tour de broches à ressort dans un système de tests sans avoir besoin de carte sonde, incluant un corps ayant une première surface et une seconde surface, le corps ayant une partie centrale sensiblement circulaire, et une pluralité de bras pliables s'étendant vers l'extérieur depuis la partie centrale, chaque bras pliable ayant une languette de connexion placée à son extrémité éloignée ; une première pluralité de bornes de contact placées sur la seconde surface de la partie centrale du corps, ladite première pluralité de bornes de contact agencée en motif pour correspondre à la disposition des pastilles sur la plaquette à laquelle se connecter ; au moins une borne de contact placée sur la première surface de la pluralité des languettes de connexion ; et une pluralité de chemins conduisant l'électricité, placés sur le corps de telle manière que la première pluralité de bornes de contact soit reliée électriquement à la borne correspondante des bornes de contact de la première surface des languettes de connexion.
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