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1. (WO2007145728) STRUCTURE D'ESSAI ET CAPTEUR DE SIGNAUX DIFFÉRENTIELS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/145728    N° de la demande internationale :    PCT/US2007/010801
Date de publication : 21.12.2007 Date de dépôt international : 03.05.2007
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    09.11.2007    
CIB :
G01R 27/28 (2006.01)
Déposants : CASCADE MICROTECH, INC. [US/US]; 2430 NW 206th Avenue, Beaverton, OR 97006 (US) (Tous Sauf US).
CAMPBELL, Richard [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CAMPBELL, Richard; (US)
Mandataire : RUSSELL, Kevin, L.; Chernoff, Vilhauer, McClung & Stenzel, 601 Sw Second Avenue, Suite 1600, Portland, OR 97204 (US)
Données relatives à la priorité :
60/813,119 12.06.2006 US
11/710,149 22.02.2007 US
Titre (EN) A TEST STRUCTURE AND PROBE FOR DIFFERENTIAL SIGNALS
(FR) STRUCTURE D'ESSAI ET CAPTEUR DE SIGNAUX DIFFÉRENTIELS
Abrégé : front page image
(EN)A test structure including a differential gain cell and a differential signal probe include compensation for the Miller effect reducing the frequency dependent variability of the input impedance of the test structure.
(FR)La présente invention concerne une structure d'essai comprenant une cellule de gain différentiel et un capteur de signal différentiel qui permettent une compensation de l'effet Miller, ce qui réduit la variabilité en fonction de la fréquence de l'impédance d'entrée de la structure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)